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HT-7物理试验报告-EAST
HT-7 FY08_HT-7 实验物理报告 物理三组 2008.3.17 HT-7 Shot No 100101 长脉冲放电波形图 HT-7 Shot No 100101 长脉冲放电Hard X-Ray强度分布波形图 HT-7 Shot No 100101 电子温度(PHA)随时间变化图形 HT-7 Shot No 100101 密度剖面随时间变化图形 HT-7 Shot No 100101 放电在61s后出现hot spot HT-7 Shot No 100101 的软X射线阵列信号没有变化 HT-7 Shot No 100101 只有强场侧XUV1和XUV2增强 XUV1与XUV2测量位置在高场侧靠近边界区域 HT-7 Shot No 100101 的Ha信号显示没有极向不对称性 HT-7 Shot No 100101 在61s之前的XUV辐射分布 LHW 相位角未固定,导致低杂波与等离子体相耦合的效率变差 HT-7 LHW 任意相位角 LHW 相位角为 0 度 确认385nm附近的特征谱线元素成分 HT-7 实测波长345.26nm(345.23nm) BII 384.74nm(384.79nm) OII Si (385.366nm) (385.6nm) (386.66nm) 括号中是标准值 HT-7 分别对应于Ti Gr Fe Ni 软X射线能谱上的杂质峰 昨日最长脉冲 Shot No 100118t=201s HT-7 HT-7 谢谢!
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