TOFD二级试题.doc

考核号： 姓　名： 密 封 线 2007年度全国特种设备无损检测 TOFD专业理论试卷 （标准答案） 　　　　　　　　成绩：　　　　　 题 型 分值 扣分 阅卷人签章 单项选择题 60 问答题 26 计算题 14 总计 100 2007年9月5日 全国特种设备无损检测人员资格考核委员会 一、单项选择题（将唯一的正确答案填在括号内，每题3分，共60分） 图1 16MnR对接接头TOFD检测设置，材料声速为5932米/秒。 根据图1回答问题1到3。 1. 当s=40mm，t=35mm时，直通波和底面反射波之间相差多少微秒？ （ C ） a) 17.92 b) 13.38 c) 4.44 d) 2.22 2. 当PCS=50mm,楔块角度=55度时，TOFD主声束交点深度是多少？ （ B ） 25.0mm 17.5mm 14.4mm 11.5mm 3. 缺陷a在TOFD图像中显示的深度与其实际深度相比，其位置： （ A ） a) 偏上 b) 偏下 c) 可能偏上或偏下，取决于y值的大小 d) 无法判断 4. 当平板工件厚度为100mm，TOFD楔块角度为55度，声束聚焦到5/6t时的PCS是多少？（ C ） 66mm 133mm 238mm 285mm 图2 从包含一个侧壁未熔合缺陷的平板对接焊缝上 得到的TOFD A-扫描信号（假设信号‘E’为底面回波）。 5. 在图2中，信号“A”代表： （ B ） 直通波 脉冲宽度 耦合剂厚度 始脉冲 6. 在图2中，信号“A”与信号“B”之间的时差取决于： （ A ） 探头延时 探头中心间距 材料声速 以上都是 7.“平行扫查”（即B-扫描）是指扫查方向与以下哪个参数平行？ （ A ） 扫查面 超声波束 焊缝中心线 底面反射波 8. 在TOFD设置中选用哪种探头会得到最大的波束扩散？ （ B ） 高频和大晶片 高频和小晶片 低频和大晶片 低频和小晶片 9. 采用低频探头进行TOFD检测的缺点是什么？ （ C ） 较小的穿透能量 较小的波束扩散 较差的分辨率 以上都是 10. 从扫查面开口缺陷尖端得到的衍射信号（从上表面扫查）相位与以下哪个信号的相位相同： （ A ） 直通波 底面回波信号 波形转换的底面回波信号 以上都不是 11. 在下图中的A-扫描中显示的信号最有可能是由哪种因素造成的？ （ B ） 无高度的缺陷 可辨高度的缺陷 不同深度的两个独立缺陷 较大的扫查面开口缺陷 12. 在下图中的TOFD成像最有可能是由哪种因素造成的？ （ A ） 直通波 焊缝非平行扫查成像图， 扫查长度200mm（单V焊缝，25mm壁厚） 底面