串谐与串抗.ppt

变频谐振成套 及串联电抗器试验 概述 试验总的宗旨是在于提高产品的检修质量，确保产品的安全运行。 通过各种试验来验证产品结构、材料、工艺是否合理。 产品的性能是否符合有关标准和技术条件的规定，制造上是否存在影响运行的各种缺陷。另外为开发新产品和改进产品提供数据。 为保证产品能满足电力输送的质量和可靠性的要求，国家制定了相应的有关标准 。例行试验一般称为成品试验，出厂试验对于每台产品都是必不可少的。 型式试验是模拟试品在运行中最严格的状态进行试验.规定在下列情况下必须进行试验: 1) 新产品 2) 结构、材料、工艺有较大改变 3）产品需要鉴定 4）批量生产的每5年一次 5）产品停产半年以上又重新恢复生产时 6）出厂检验结果与上批产品检验有较大差异时 试验原则 1、试验时先使用非破坏性的手段来发现缺陷或故障 2、试验程序不可颠倒进行 原因： （1）使产品的缺陷或故障不能被发现。 （2）影响试验结果。如阻抗电压、负载损耗试验之后， 由于绕组中通过电流产生损耗，使温度有所升高。因此此试验后，不能立即进行绕组的电阻测量，而应间隔一定时间之后，再测量绕组电阻作为冷态。 成品试验时应具备的条件 1、所有送交试验的所有成品产品，其所有零部件必须按图纸装配在 规定位置上，引线与套管联结按技术要求调整好必须可靠。 2、必须是已按工艺流程要求进行完毕，如真空、注油、热油循环、 进行密封试漏，静置等等，在油的性能合 格之后，最后经质量检 查员检查合格后才能进行试验。 3、技术准备。试验站负责对要进行试验的产品，结合试验 方法、标 准、履约、技术条件进行技术准备，需填写在试验手稿内。对特别 重要的产品应编制试验方案，以便试验人员进行正确操作。 4、试品位置离周围物体应有足够的距离，不得有影响试验结果的物 体停放在试验区内。同时要保证对操作和监视人员有足够的安全距 离。 5、测试设备的布置应避开高电场，强磁场或影响仪表读数准确度的 振动源等以保证测量准确。 三、介质损耗率测定 （1）反接法：试验电压直接加到桥体内，对试验人员提出了较高的安全要求，一般电压不超过10kV。 （2）正接法：试验电压直接加到试品上，电桥上电压相对较低 。 举例：如图1：tgδ=0.573% c=1.627nF U=10Kv P=UIcosφ=ωcU2tgδ=ωU2*1627*0.00573=9.32 ωU2 如图2：tgδ=1.361% C=585.91pF U=10Kv P=UIcosφ=ωcU2tgδ=ωU2*585.91*0.01361=7.97 ωU2 如图3：tgδ=0.140% C=1.041nF U=10Kv P=UIcosφ=ωcU2 tgδ=ωU2*1041*0.0014=1.4574 ωU2 （2）35kV级：为80OOkV·A以上产品提供介质损耗因数(tanδ)，测试通常应在10～40℃ 温度下进行, 20℃时应不大于1.5%。 （3）66kV级及上的绕组： 20℃时应不大于0.7%。电压为63KV及以上的试品，取10KV或 大于10KV，但不超过绕组线端较低电压的60%。 影响测量的因素 ： a、抽压小套管绝缘不良，因其分流作用，使测量的tgδ值产生偏小的测量误差。 b、当相对湿度较大