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关关雎鸠 南邮 微电子导论课件 ch2

杂质能级的补偿 EC EV N型补偿(NDNA) EC EV P型补偿(NAND) 2.4.3杂质能级 目录 半导体的概念 半导体的晶体结构 能带理论 半导体的掺杂 载流子的输运 电子:Electron,带负电的导电载流子,是价电子脱离原子束缚 后形成的自由电子,对应于导带中占据的电子。 空穴:Hole,带正电的导电载流子,是价电子脱离原子束缚 后形成的电子空位,对应于价带中的电子空位。 半导体中的载流子 P B Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ 电 子 浓 度 n(negative) 空 穴 浓 度 p(positive) 2.5.1 半导体中的载流子 本征载流子浓度 n=p=ni 本征浓度ni的影响因素: (1)禁带宽度EG EG↑,ni↓; EG ↓ ,ni ↑ 。 (2)温度T。 T↑,ni↑; T ↓ ,ni ↓ 。 EC EV 室温时硅的本征载流子浓度为: ni=1.5×1010cm-3 2.5.1 半导体中的载流子 在非本征情形: 热平衡时: N型半导体:n大于p P型半导体:p大于n 非本征载流子浓度 2.5.1 半导体中的载流子 多子:多数载流子 n型半导体:电子 p型半导体:空穴 少子:少数载流子 n型半导体:空穴 p型半导体:电子 多子和少子 2.5.1 半导体中的载流子 n型半导体:电子 n ? Nd 空穴 p ? ni2/Nd p型半导体:空穴 p ? Na 电子 n ? ni2/Na 2.5.1 半导体中的载流子 载流子的输运机制一 扩散运动:载流子在浓度差作用下的运动。 扩散运动产生的电流叫扩散电流。 - + + - - + - - + - + - + - + - - - + - - + - - - - - + - + - + + - - - - - - + + - + + - + + + + + + + + + + + 影响扩散电流的因素: 扩散系数:D↑,J↑ 浓度差:△n↑,J↑ 2.5.2 载流子的输运机制 载流子的输运机制二 漂移运动:载流子在电场作用下的运动。 漂移运动产生的电流叫漂移电流。 + - + - + - + + + - - - - - - + + + 影响漂移电流的因素: 载流子浓度:n↑,J↑ 电场强度:E ↑,J↑ 迁移率:μ↑,J↑ 2.5.2 载流子的输运机制 迁移率 迁移率μ:单位电场作用下单位时间内载流子运动的距离,反映了载流子在电场作用下输运能力。 影响迁移率的主要因素: 原子的热震动 电离杂质 在硅中,常温下电子迁移率大约是空穴迁移率的2.5倍。 2.5.2 载流子的输运机制 正负电荷之和为0 p + Nd – n – Na = 0 施主和受主可以相互补偿 p = n + Na – Nd n = p + Nd – Na 电中性条件 2.5.1 半导体中的载流子 半导体中的总电流 总电流=扩散电流+漂移电流 (内因驱动) (外因驱动) 2.5.2 载流子的输运机制 载流子的复合 载流子在移动过程中,遇到符号相反的载流子双方会一起消失,称之为复合。 2.5.2 载流子的输运机制 EC EV EC EV Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ Si4+ 载流子产生 载流子复合 作业 用于推导能带论的基本假设有哪些?什么是能带论?用能带论的观点来区分金属、半导体和绝缘体。 载流子的主要输运模式是什么?影响载流子输运的因素有哪些? 在室温下的单晶硅进行硼掺杂,硼的浓度为3×1015cm-3。试求半导体中多子和少子的浓度。若再掺入浓度为4.5×1015cm-3的磷,试确定此时硅的导电类型,并求出此时的多子和少子浓度。 电子科学与工程学院微电子技术系 郭宇锋 《微电子学导论》第二讲 第二讲 半导体物理基础 目录 半导体的概念 半导体的晶体结构 能带理论 半导体的掺杂 载流子的输运 什么是半导体? 超导体: 大于106(?cm)-1 导 体: 106~104(?cm)-1 半导体: 104~10-10(?cm)-1 绝缘体: 小于10-10(?cm)-1 电 导 率 2.1 半导体的概念 半导体材料的分类 单晶半导体:单晶硅(Ge)、单晶锗(Ge) 多晶半导体:多晶硅 化合物半导体:砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP) 、碳化硅(SiC) 非晶半导体:非晶硅 有机半导体:OLED 2.1 半导体的概念 目录 半导体的概念 半导体的晶体结构 能带理论 半导体的掺杂 载流子的输运 最常见的半导体材料——硅 硅:Silicon 符号:Si 元素周期表位置: 第IV主族,第2周期(14号元素) 电

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