PPT-客户培训-1-技术特点及硬件设计特点.pptxVIP

ICP-MS客户培训 NexION 350 陈观宇 火焰原子吸收光谱（FAAS） 石墨炉原子吸收光谱（GFAAS） 电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES/AES） 注：ICP-OES（Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer（ICP-OES），ICP-AES（Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometer），一方面，ICP中除了原子光谱，还存在大量离子光谱，ICP-AES的叫法不合适；另一方面随着技术的进步，俄歇电子能谱(简称 AES) (Auger Electron Spectrometer）应用增多，为了避免简称的混淆，所以把发射光谱改为OES。 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS） ; 原子光谱技术;什么是ICP-MS;原子;同位素和同量异位素;原子光谱的原理;ICP-MS分析的简单过程;ICP-MS检测Cu; ;1983年专利的PlasmaLok技术：Elan-250，用两路射频接入解决了ICP与MS之间接口处的高压放电问题，在世界上第一次实现了ICP-MS仪器的商品化； 1999年专利的动态反应池技术：Elan-6100DRC，用串级四极杆技术实现了干扰物的消除，在世界上第一次推出具有碰撞反应池技术的ICP-MS； 2009年专利的3C、3D、3Q技术：NexION-300，用3个锥、3个工作模式和三重四极杆质谱，实现了无与伦比的长期稳定性。 2014年推出NexION 350，使用Syngistix操作系统，四极杆采用更稳定的铟钢材质，结合检测器，瞬时数据采集速率达到100000点/s。 ICP-MS的美国专利号：US4501965，US4682026，US4746794，US4963736，US5248875，US5308982，US5463219，US5559337，US5847386，US6111250，US6140638，US6713757;;;;典型ICP-MS仪器结构—— PE NexION 350;技术特点 硬件设计特点 ;ICP-MS技术特点——分析元素覆盖面广、检出限低; ICP-MS技术特点——检出限低; ICP-MS技术特点——线性范围宽; ICP-MS技术特点——线性范围宽;; ;;仪器维护与耗材; ICP-MS技术特点——能进行同位素分析; ICP-MS技术特点——多种联用技术联用;典型的ICP-MS仪器结构;仪器外观-台式设计125cm×77cm × 76cm,181KG;三重四级杆设计（3Q） 四级杆离子偏转器 四级杆通用池 四级杆质量分析器 三锥接口设计（3C） 采样锥、截取锥、超级截取锥 三种质谱干扰消除方式（3D） 标准模式、碰撞模式(KED）、反应模式(DRC) ;;;全新的射频发生器;全新的射频发生器 第三??自激式设计，含有PlasmaLokTM 专利技术 采用40.68MHZ（别家27.12MHZ）的激发频率，功率更小，中心通道更稳定，易点炬且不易熄 变频自动电阻匹配 体形更小，重量更轻，氧化物更少 耐受性最强的设计 没有移动部件 最快的射频匹配速度 – 纳秒级时间内快速适应样品成分的改变 立即适应水相样品和有机样品之间的切换 形态分析中有机相的梯度洗脱应用 感应线圈氩气冷却 方便维护 ; 全新的进样系统 ;全新的进样系统 0.25 毫升/分 的液体提升率 1. 同心雾化器，并配备微死体积 的连接头 玻璃或石英 2. 全新的免O圈 漩流雾室 玻璃或石英 更洁净 - 更低的背景等效浓度 更少的维护 (无O圈需要更换) 样品使用量更少，产生的废液更少 ;全新的炬管套件 升级的一体式卡套设计 炬管，中心喷射管整体拆卸 更大手柄，方便抓握 仅需 ? 圈 即可锁紧或解锁 ;;全新的等离子体炬位优化系统 电脑全自动控制，炬位三维优化 三向均可6 毫米移动 重现偏差 50 微米 ;;全新的等离子体观测窗 实色等离子体观测屏 图像可清楚显示喷射管孔和锥孔 ; 全新的接口 ;划时代的三锥接口 ;;; ;NexION 350的特色;NexION 300的特色; ;质谱干扰;干扰消除的新方法 ??用池技术 – 有三种模式的池技术 标准模式（没有池气体） 碰撞模式（用惰性碰撞池气体，例如He）和动能甄别（KED）技术 反应模式（用反应性气体）和动态带宽调谐质量过滤技术（DBT，Rpq） 模式间切换时间最短为10 秒 终身免清洗 ;利用反应气与干扰离子直接反应消除干扰，而待测离子与反应气不反应而无损失。