AT89S51单片机原理及应用技术王全电子课件第2章节.ppt

2.5 AT89S51的工作方式 当硬件复位时，IDL位被硬件自动复位为0，从而使CPU退出空闲工作方式。 当使用硬件复位退出空闲方式时，在复位逻辑电路发挥控制作用前，有长达两个机器周期时间，单片机要从断点处（IDL位置1指令的下一条指令处）继续执行程序。在这期间，片内硬件阻止CPU对片内RAM的访问，但不阻止对外部RAM或I/O口的访问。为了避免在硬件复位退出空闲方式时出现对外部RAM或I/O口的不希望的写入，在进入空闲方式时，紧随IDL位置1指令后的不应是写外部RAM或I/O口的指令。 2.5 AT89S51的工作方式 3．空闲工作方式时的WDT 在进入空闲工作方式时，WDT的工作状态由AUXR中的WDIDLE位的值决定。所以，在进入空闲工作方式前应先设置AUXR中的WDIDLE位，以确认WDT是否继续计数。 当WDIDLE=0时，WDT在空闲方式下保持继续计数。此时，由于WDT正常工作，为防止WDT计数溢出复位单片机，用户可设计一个定时器，定时申请中断使CPU定时退出空闲方式，然后复位WDTRST，再重新进入空闲方式。 当WDIDLE=1时，WDT在空闲方式下暂停计数。在CPU退出空闲方式后，WDT才恢复计数。 2.5 AT89S51的工作方式 2.5.4 掉电工作方式 掉电工作方式是CPU通过执行指令使振荡器停止工作，片内的功能部件都停止工作。在掉电保持方式下，芯片VCC可由备用电源供电，内部RAM、PC、SFR等都保持进入掉电工作方式前的状态不变。掉电工作方式时引脚的状态见表2-9。 表2-9 掉电工作方式时引脚的状态 程序存储器 ALE PSEN P0口 P1口 P2口 P3口 内部ROM 0 0 数据 数据 数据 数据 外部ROM 0 0 浮空 数据 数据 数据 2.5 AT89S51的工作方式 1. 掉电工作方式的进入 CPU通过执行指令把PCON寄存器的PD位设置为1，便进入掉电工作方式。在掉电方式下，振荡器停止工作，进而所有功能部件都停止工作。 2. 掉电工作方式的退出 掉电工作方式的退出有两种方法，一是中断方式，二是硬件复位方式。 在掉电工作方式时，若有任一个允许的外部中断请求，PD位被片内硬件自动清0，从而退出掉电工作方式。CPU响应中断，执行完中断服务子程序返回时，将从设置掉电工作方式指令的下一条指令（断点处）继续执行程序。 当硬件复位时，PD位被硬件自动复位为0，从而使CPU退出掉电工作方式。硬件复位时要重新初始化SFR和PC，但不改变片内RAM的内容。当VCC恢复到正常工作电压之前，硬件复位信号应该是无效的。中断请求信号和硬件复位信号有效时应保持足够长的时间，以使振荡器重新启动并稳定工作。 2.5 AT89S51的工作方式 3．掉电工作方式时的WDT 掉电方式下振荡器停止工作，意味着WDT也就停止计数。用户在掉电方式下不需要操作WDT。 在中断方式退出掉电工作方式时，WDT会按照进入掉电工作方式前的状态继续工作。为防止WDT在掉电工作方式退出过程中溢出复位，在系统进入掉电工作方式前应先对寄存器WDTRST复位。 在复位方式退出掉电工作方式时，WDT和正常情况下系统使用WDT的情况一样。 2.5 AT89S51的工作方式 2.5.5 编程和校验工作方式 AT89S51的片内有4KB Flash存储器，可用于存储系统程序，支持在系统编程（ISP）。如何把程序写入到4KB Flash存储器中，即Flash存储器的编程问题，此时单片机工作在编程工作方式。AT89S51的Flash存储器有并行和串行两种编程模式，通用编程器一般采用并行编程模式，在系统编程（ISP）一般采用串行编程模式。在编程过程中一般同时完成擦除、程序校验和加密工作。 AT89S51出厂时，Flash存储器处于全部空白状态（各单元均为FFH），可直接进行编程。若不全为空白状态（单元中有不是FFH的），应首先将芯片擦除后，方可写入程序。AT89S51的Flash存储器可循环写入/擦除10000次，数据保存时间为10年，片内Flash存储器有低电压编程（VPP=5V）和高电压编程（VPP =12V）两类芯片。低电压编程可用于在线编程，高电压编程与一般常用的EPROM编程器兼容。在AT89S51芯片的封装面上标有低电压编程还是高电压编程的编程电压标志。 2.5 AT89S51的工作方式 Flash存储器的编程可采用通用编程器编程，也可采用在系统编程（ISP）