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407B 第三节 谐振法测量CX及tanδ 图2-22 Q表原理图 407B 第三节 谐振法测量CX及tanδ 三、 变电纳法测量tanδ从图2-21可以看出,谐振曲线的宽度ΔC与谐振回路的损耗有一定的关系,损耗愈大,ΔC就愈大,变电纳法就是利用接和不接试品两种情况下,回路谐振曲线宽度ΔC的变化来测量试品的tanδ。 407B 第四节 测量误差及其消除方法 一、 外来电磁场干扰 图2-23 外电场干扰示意图 407B 第四节 测量误差及其消除方法 图2-24 倒相法测量、tan的相量图 407B 第四节 测量误差及其消除方法 二、 外界耦合阻抗 图 2-25 407B 第四节 测量误差及其消除方法 三、 电极、导线等可能造成的误差 1. 接线的影响 图2-26 接线与试品的等效阻抗图 407B 第四节 测量误差及其消除方法 2. 电极接触不良的影响 图2-27 电极接触不良的等效阻抗 407B 第四节 测量误差及其消除方法 3. 电极边缘的影响 图2-28 电极边缘效应分析图 407B 第四节 测量误差及其消除方法 4. 消除或减少接线及电极带来误差的方法 图2-29 测微电极结构图1—接地端 2—高压电极(接伏特计) 3—试品4—接地电极 5—波纹管 6—测微螺钉7—微调电容器 8—高压电极(接电路) 407B 第四节 测量误差及其消除方法 (1) 简单方法 消除或减小接线及电极可能带来误差的简单方法有:①用较粗的架空短接线,在用替代法测量时,不接试品是将试品从接线的末端取掉,让接线还留在测量系统中,这样两次测量结果相减,可以消除部分接线的误差。(2) 测微电极 测微电极是在高频下测量绝缘材料的专用电极夹具。 407B 第四节 测量误差及其消除方法 图2-30 测微电极的电容与电极距离关系图 407B 第四节 测量误差及其消除方法 (3) 不接触电极 为了进一步减少因电极接触不良造成 的误差,可用不接触方法来测量,即 图2-31 不接触电极示意图a) 结构示意 b) 等效电路 407B 第五节 介电谱的测量 图2-32 不平衡电桥结构框图 一、 不平衡电桥 407B 第五节 介电谱的测量 图2-33 不平衡电桥原理图 407B 第五节 介电谱的测量 图2-34 相位比较法测量原理图 二、 相位比较法 407B 第五节 介电谱的测量 图2-35 在1kHz下测得PVC的介电温谱 三、 时域——频域法 (一) 测量原理 407B 第五节 介电谱的测量 图2-36 阶跃电压与过渡电流 407B 第五节 介电谱的测量 (二) 数值傅里叶变换法 图2-37 方波电压脉冲法原理a) 方波电压u(t) b) 相应的电流i(t) 407B 第五节 介电谱的测量 (三) 电荷法 图2-38 q(t)—lo(t)函数的近似表示 407B 第五节 介电谱的测量 407B 第五节 介电谱的测量 表2-1 不同nω值时的X(n)和Y(n) 407B 第五节 介电谱的测量 图2-39 电荷法测量原理图 407B 第五节 介电谱的测量 图2-40 电极系统 407B 第五节 介电谱的测量 图2-41 电荷法测量框图 407B 第五节 介电谱的测量 图2-42 热刺激电流图 (四) 热刺激(TSC)电流法 407B 第五节 介电谱的测量 图2-43 热刺激电流法测得的tanδ频谱图 尚辅网 / 407B 第二章 电容(相对介电常数)及损耗 407B 第二章 电容(相对介电常数)及损耗 407B 第二章 电容(相对介电常数)及损耗 第一节 概 述第二节 电桥法测量CX及tanδ第三节 谐振法测量CX及tanδ第四节 测量误差及其消除方法第五节 介电谱的测量 407B 第一节 概 述 一、 定义(一) 相对介电常数(二) 损耗因数 二、 影响相对介电常数与介质损耗因数的因素(一) 电压幅值(二) 频率(三) 温度 (四) 湿度三、 试样与电极 407B 第一节 概 述 图2-1 介质损耗角示意图 407B 第一节 概 述 图2-2 试品的等效阻抗a) 并联 b) 串联 407B 第一节 概 述 图2-3 、tanδ与频率的关系 407B 第一节 概 述 图2-4 、tanδ与温度的关系 407B 第二节 电桥法测量CX及tanδ 一、 阻容电桥(一) 高压西林电桥1. 原理解此方程,实部、虚部分别相等,可得2. 几种高压西林电桥(1) 精密西林电桥 为了能准确测量很小的tanδ(如10-5数量级),对电桥结构上可能造成的误差,都应采取措施予以消除或减小。1) 减小标准电容器的损耗 设CN的损耗因数为tanδN,则其等效阻抗应并联上RN,式(2-
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