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第2章 双极型晶体管及其PPT
第2章 半导体三极管及其电路分析 2.1 双极型半导体三极管 2.2 三极管基本应用电路及其分析 2.3 单极性半导体三极管及其电路分析 §2.1 双极型半导体三极管 晶体管的几种常见外形 §2.1.1 晶体管的结构及类型 按材料分: 硅管、锗管 按结构分: NPN、 PNP §2.1.2 晶体管的工作原理 一、 半导体三极管正常放大的条件 三、 三极管内部载流子的传输过程 1. 发射区向基区注入多子电子, 形成发射极电流 IE。 (三极管内部载流子的传输过程) 四. 三极管的电流分配关系 五、晶体管的放大作用 现象:Ui 的微小变化引起输出Uo的很大的变化 §2.1.3 晶体管的特性曲线 一、共射输入特性: 特性右移. 特性基本重合(电流分配关系确定) 二、共射输出特性曲线 ★ 1. 三极管的放大状态: PNP管: UCB﹤0,UBE﹤0或 UC<UB<UE 且UEB=管压降 【例1】: 电路如图所示,VCC=15V,β=100,UBE=0.7V。 试 问: (1) Rb=50kΩ时,uO=? (2) 若T临界饱和,则 Rb≈? (2) 设临界饱和时 UCES=UBE=0.7V ∴ 三、晶体管的开关电路 开关电路是大信号工作电路 四、温度对特性曲线的影响 1. 温度升高,输入特性曲线向左移。 五 晶体管的主要参数 一、电流放大系数 三、极限参数 【例2】: 三极管正常放大,试判断: ①硅、锗。 ② b、c、e 极。 ③ NPN管、PNP管。 §1.4 二极管、三极管的检测 1.3.1 半导体二极管特性的测试与应用 1. 用万用表检测二极管 (1) 用指针式万用表检测 (2) 用数字式万用表检测 2.4.1 半导体三极管使用基本知识 一、外型及引脚排列 二、万用表检测晶体三极管的方法 1. 根据外观判断极性; 指针式万用表 注意事项: 数字万用表 三、晶体三极管的选用(P89) 二、工作原理 作用:电压放大。 三、放大电路的两种工作状态 (2)动态 (交流工作状态) 用于研究动态(交流)参数,如: Ro、Ri、Au等。 在特性曲线上所对应的一个点称为 静态工作点Q。 A 点坐标 ( , 0 ) 输入回路: 2: 放大电路的非线性失真问题 因工作点不合适或者信号太大使放大电路的工作范围超出 了晶体管特性曲线上的线性范围,从而引起非线性失真。 2. “Q”过高引起饱和失真 不发生饱和失真的条件: UCEQ - UCES U cem (2) 最大不失真输出电压 2. 晶体三极管动态分析步骤: 导电沟道: 在两个PN结之间的N型半导体构成导电沟道。 三、JFET的伏安特性 1. 输出特性 四、P沟道JFET (1) 导电的是空穴 (2) UGS(off) 0 偏置电压: VGS≥0 VDS0 2.3.2 绝缘栅型效应管(MOS管) 一、增强型 N 沟道 MOSFET (Mental Oxide Semi— FET) 2. 工作原理 c. 当 uGS ? UGS(th) 时,衬底中电子被吸引到表面,形成感应导电沟道。 uGS 越大沟道越厚。 2) 加上UDS ( UDS 0 ) 随着 uDS? 沟道将变窄 3. 转移特性曲线 4. 输出特性曲线 增强型 P 沟道 MOSFET 结构与符号 二、耗尽型 N 沟道 MOSFET Sio2 绝缘层中掺入正离子 在 uGS = 0 时已形成沟道; 在 DS 间加正电压时形成 iD, 耗尽型P 沟道 MOSFET P 沟道 场效应管的主要参数 一、开启电压 UGS(th)(增强型) 夹断电压 UGS(off)(耗尽型) 四、低频跨导 gm 反映了uGS 对 iD 的控制能力, 单位 S(西门子)。一般为几毫西 (mS) FET小结: 一、符号、特性的比较 2.3 单极性半导体三极管及其电路分析 场效应管 FET (Field Effect Transistor) 利用电场效应来控制载流子运动的半导体器件。 特点: 电压 uGS控制电流iD 分类: 结型 N沟道 P沟道 JFET 绝缘栅型 增强型EMOS 耗尽型DMOS N沟道 P沟道 MOSFET 增强型 耗尽型DMOS EMOS 场效应管 2.3.1 结型场效应管(JFET) 一 结构与符号 N 沟道 JFET P 沟道 JFET S — 源极 Source
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