粉体工程第3讲.ppt

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粉体工程第3讲

幻灯片 * * * * * 得到比200目粗的筛孔尺寸 得到比200目细的筛孔尺寸 主模系列: 标准规则: 以200目的筛孔尺寸0.074mm为基准,乘或除模 (或) ,则得到 * * 副模系列: 得到比200目粗的筛孔尺寸 得到比200目细的筛孔尺寸 标准筛系列: 32 42 48 60 65 80 100 115 150 170 200 270 325 400 其中最细的是400目,孔径是38μm。 * * * * 2.显微镜 采用定向径方法测量 优点 可直接观察粒子形状 可直接观察粒子团聚 光学显微镜便宜 缺点 代表性差 重复性差 测量投影面积直径 速度慢 显微镜方法的优缺点 * * 光学显微镜 0.25——250μm 电子显微镜 0.001——5μm 显微镜测定粒度要求统计颗粒的总数: 粒度范围宽的粉末———10000以上 粒度范围窄的粉末———1000 左右 * * 3.光衍射法粒度测试 测量原理 当光入射到颗粒时,会产生衍射,小颗粒衍射角大,而大颗粒衍射角小,某一衍射角的光强度与相应粒度的颗粒多少有关。 测量原理示意图 * * 激光衍射 0.05—500μm X光小角衍射 0.002—0.1μm 测量范围 * * 目前的激光法粒度仪基本上都同时应用了夫琅霍夫(Fraunhofer)衍射理论和米氏(Mie)衍射理论,前者适用于颗粒直径远大于入射波长的情况,即用于几个微米至几百微米的测量;后者用于几个微米以下的测量。 激光衍射 激光衍射法原理图 激光器 激光束 透镜 样品池 透镜 衍射光束 未衍射光束 光传感器列阵 中心传感器 粉末 * * 4.电传感法粒度测试 测量原理 当一个小颗粒通过小孔时,所产生的电感应,即电压脉冲与颗粒的体积成正比。 * * 无颗粒时单元的电阻 有颗粒时单元的电阻 仪器对脉冲计数并归档,即可计算出有关粒度参量 5. 沉降法(sedimentation method) 是液相中混悬的粒子在重力场中恒速沉降时,根据Stocks方程求出粒径的方法。 Stocks方程适用于100μm以下的粒径的测定,常用Andreasen吸管法。测得的粒径分布是以重量为基准的。 Stocks径的测定方法还有离心法、比浊法、沉淀天平法、光扫描快速粒度测定法等。 * * 测量原理示意图 t=0 t=t1 t= t2 t=t3 光吸收率 时间 t1 t2 t3 0 * * 重力沉降 10—300μm 离心沉降 0.01—10μm 测量方法 * * 自然重力状态下的d~t的函数(Stokes) 离心力状态下的d~t函数 优点 测量重量分布 代表性强 经典理论, 不 同 厂 家仪器结果对比性好 价格比激光衍射法便宜 缺点 对于小粒子测试速度慢, 重复性差 非球型粒子误差大 不适应于混合物料 动态范围比激光衍射法窄 沉降法方法的优缺点 高岭土样品 沉降 激光 粒度 % 100 10 沉降与激光衍射法对于非球型粒子测试比较 6.比表面积法(specific surface area method) 是利用粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原理,通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得平均粒径的方法。 可测定100μm的粒子,但不能测定粒度分布。 比表面积表示方法 常见粒度分析方法比较 统计方法 代表性强, 动态范围宽 分辨率低 筛分方法 38微米-- 沉降方法 0.01-300微米 光学方法 0.001-3500微米 非统计方法 分辨率高 代表性差, 动态范围窄 重复性差 显微镜方法 光学 1微米-- 电子0.001微米-- 电域敏感法 0.5-1200微米 * * 常见粒度分析方法适用范围 * * 粒度测定方法的选定主要依据: 1.颗粒物质的粒度范围; 2.方法本身的精度; 3.用于常规检验还是进行课题研究。用于常规检验应要求方法快速、可靠、设备经济、操作方便和对生产过程有一定的指导意义; 4.取样问题。如样品数量、取样方法、样品分散的难易程度,样品是否有代表性等; 5.要求测量粒度分布还是仅仅测量平均粒度; 6.颗粒物质本身的性质以及颗粒物质的应用场合。 THANKS! 412724799@ 联系我 ! 幻灯片 * 幻灯片 * 第二单元:颗粒几何形态学 西南科技大学 王玉平 (2) 第2单元 颗粒几何形态学 (8学时) [知 识 点] 1、粒径与粒度; 2、粒度分布; 3、颗粒的形态; 4、颗粒大小测定; [重 点] 粒径的表达与形态的表达; [难 点] 颗粒的形态表达; [基本要求] 1、识 记:粉体、颗粒、形

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