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APD的特性和调试方法
* APD的特性I 输出信号 光线 偏压,通常为3-5V PIN-TIA的接收机 输出信号 光线 偏压,通常为30-60V APD-TIA的接收机 Ipd M*Ipd M为放大倍数,为偏压的大小来控制 1A/1W -6dbm 0.25mW 0.25mA -30dbm 0.001mW 1nA M=10 -30dbm 0.001mW 10nA APD的特性II APD的两种VBR版本 APD的最佳偏压值的选择办法-单温度点 要点: 在某个M值的位置,灵敏度达到最大; 小于这个M值时候,因为电流放大的比例不够,导致灵敏度下降; 当大于M值的时候,因为APD的噪声增加,也导致灵敏度下降 APD的M值的调整办法 现有的模块中,我们有通过一个DAC的寄存器值来调整反偏的电压; DAC值的范围为0-255; DAC值越大,电压越小; DAC值越小,电压越大; 最佳温度点的选择-测试环境 81250 OUT IN SFP测试板 光源 模块 T R 直流电源 电调衰减器 单模 宽带耦合器 单模 SFP测试板 待测 模块 T R 光功率计 直流电源 PC机 送入临界点的光功率, 观察误码的特性 手动调节衰减器的衰减量,可以送入不同的信号强度进入待测模块 误码分析仪上可以观察误码率 PC机上改变偏压值, 获得最好的误码特性 最佳温度点的选择-测试结果 偏压设定DAC值(DAC越大,电压越小) 2.3 E-10 111 1 E-10 112 7 E-11 113 5 E-11 115 1.5 E-10 117 2.2 E-10 120 使用一个略大于这个ROSA的极限的信号去测试不同M值下的误码率,如右图上的红线所示,可以观察到不同的误码率,最佳的M值,为测试中,观察到的误码率最小的点; 最佳点 误码率:误码数量/传输码的总数量 比如,我们传送1亿,10的8次方个数据,出现了1个误码,对应误码率,1/(1*E8)=1.0 E-8 比如,我们传送10亿,10的9次方个数据,出现了4个误码,对应误码率,4/(1*E9)=4.0 E-9 1.25G 1.25*E9 ,如果误码率为1E-11,就是说传送了E11个码才有一个误码,E11/(1.25E9) = 100/1.25 = 80秒; 第一个80秒,没有误码,第二个80秒,出现2个误码; 最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择 如果测试信号太大:会观察到没有误码的区间,无法选取最佳点 1.1 E-11 111 0 112 0 113 0 115 1.2 E-11 117 1.3 E-11 120 如果测试信号太大:可能存在一个绿色的区域,虽然有误码,但是误码出现的概率很小,可能4-5分钟都观察不到一个,几乎没有办法用于生产的测试; 最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择 2.3 E-11 111 2E-11 112 1.3 E-11 113 1.2 E-11 115 1.5 E-11 117 2.2 E-11 120 如果测试信号太小:各个测试点间的误码率的相对差异比较小,不容易评估并选择最佳点;过大的误码率也容易导致误码分析仪失去锁定;通过反复的调节衰减器的值,可以找到这个合适的输入信号的位置 最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择 2.3 E-8 111 2.45 E-8 112 2.3 E-8 113 2.35 E-8 115 2.3 E-8 117 2.4 E-8 120 90:100 10:20 理想的输入信号,要求实际测量的误码率控制在10的-10次方的级别;基本上,通过30秒到1分钟左右,误码分析仪上,就可以得到一个稳定的误码率的数据; 通过调整衰减器的衰减系统,可以找到这个合适值的位置,目前的情况看,大概在-35dbm到-37dbm之间 最佳温度点的选择-要点-测试信号强度的选择 最佳点 1E-10 0 4 0 8E-11 0 1E-10 0 1.33E-10 2 1E-10 2 0 0 1.25G的测试情况下,假设,统计,每8秒出现一个误码; 对应误码率,1/ (8*1.25E9)= 1E-10 APD的温度特性I APD的温度特性II APD的偏压选择办法-多温度点 灵敏度 温度 高温 低温 常温 常温为验证点,误差要求小于预定值,否则认为校正过程有问题 绿线写入模块作为APD的反偏电压的计算公式 APD的工艺文件/加工流程介绍 *
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