原子吸收光谱课件.ppt

仪器分析 火焰原子化装置 石墨炉原子化装置 干扰及其抑制 光谱干扰 3．与原子化器有关的干扰 ①原子化器的发射：来自火焰本身或原子蒸气中待测元素的发射。 消除的方法：对光源进行调制。但有时仍会增加信号噪声，此时可适当增大灯电流，提高信噪比。 ②背景吸收（Background Absorption）：原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类等分子或固体微粒对光源辐射吸收或散射引起的干扰. 背景吸收 校正背景的方法有： a. 邻近线校背景法： 背景吸收是宽带吸收。分析线测量是原子吸收与背景吸收的总吸光度AT， AT在分析线邻近选一条非共振线，非共振线不会产生共振吸收，此时测出的吸收为背景吸收AB 。两次测量吸光度相减，所得吸光度值即为扣除背景后的原子吸收吸光度值A。 AT = A + AB A = AT - AB = k c 本法适用于分析线附近背景吸收变化不大的情况，否则准确度较差。 b. 用于试样溶液有相似组成的标准溶液来校正； c. 用分离基体的方法来消除影响； * 1、原子吸收光谱分析 2、紫外-可见吸收光谱分析 3、红外吸收光谱分析 1、气相色谱分析 2、液相色谱分析 谱线宽度及变宽因素： 表征吸收线轮廓(峰)的参数：中心频率?0(峰值频率) 中心波长：λ(nm) 半 宽 度：Δ?0 1.自然宽度： ??N约 10-5nm 2.多普勒变宽(也称温度变宽或热变宽）：约10－3nm 3、压力变宽（劳伦兹变宽，共振变宽）??L ，也称碰撞变宽 劳伦兹（Lorentz）变宽：待测原子和其他原子碰撞。随原子区压力增加而增大。 共振变宽（赫鲁兹马克（Holtsmark）变宽）：同种原子碰撞。浓度高时起作用，在原子吸收中可忽略。 ??R= 4.484?03f c c 待测原子的浓度 4、自吸变宽 光源空心阴极灯发射的共振线被灯内同种基态原子所吸收产生自吸现象。灯电流越大，自吸现象越严重。 5、场致变宽 在一般分析条件下ΔVD为主。 定量基础 当使用锐线光源时，可用K0代替Kv，则： 其中峰值吸收系数： A = k N0 b N0 ∝N∝c （ N0基态原子数，N吸收辐射原子总数，c 待测元素浓度）　 　　　所以：A=lg(I0/I)=K c 火焰：试样雾滴在火焰中，经蒸发，干燥，离解（还原）等过程产生大量基态原子。 火焰温度的选择： a.保证待测元素充分离解为基态原子的前提下，尽量采用低温火焰； b.火焰温度越高，产生的热激发态原子越多； c.火焰温度取决于燃气与助燃气类型。 常用空气—乙炔最高温度2600K能测35种元素。 火焰的类型 ： 按照燃气和助燃气比例不同，可将火焰分为三类： a. 化学计量火焰：温度高，干扰少，稳定，背景低，适用于测定许多元素。 b. 富燃火焰：还原性火焰，燃烧不完全，测定较易形成难熔氧化物的元素Mo、Cr稀土等。 c. 贫燃火焰：火焰温度低，氧化性气氛，适用于碱金属测定。 石墨炉原子化过程一般需要经四步程序升温完成 a. 干燥; b. 灰化；c. 高温原子化； d. 净化（高温除残）。 优点： a. 试样原子化是在惰性气体保护下，愈强还原性的石墨介质中进行的，有利于易形成难熔氧化物的元素的原子化。 b. 取样量少。 c. 试样全部蒸发，原子在测定区的平均滞留时间长，几乎全部样品参与光吸收，绝对灵敏度高。10-9~10-13g。一般比火焰原子化法提高几个数量级。 d. 测定结果受样品组成的影响小。 f. 化学干扰小。 缺点： a. 精密度较火焰法差（记忆效应），相对偏差约为4—12%（加样量少）。 b. 有背景吸收（共存化合物分子吸收），往往需要扣背景。 一、 光谱干扰 1．与光源有关的光谱干扰 ①．待测元素的分析线周围有邻近线引起的干扰 a. 与待测元素的分析线邻近的是待测元素的谱线 消除的方法：减小狭缝宽度。 b. 与待测元素的分析线邻近的是非待测元素的谱线 消除的方法：采用单元素灯。 ②．HCL有连续背景发射 消除的方法：遇到此情况，应更换灯。 2．光谱重叠干扰 原子吸收法中，光谱重叠的几率小。但个别元素仍可能存在谱线重叠引起的干扰。[See Table 8-5]。 消除的方法：另选分析线，或分离干扰。 a. 火焰成分对光的吸收： b.金属的卤化物、氧化物、氢氧化物以及部分硫酸盐和磷酸盐分子对光的吸收。 c. 固体微粒对光的散射：原子化过程中形成的固体微粒，在光通过原