新生研讨课答辩.pptx

一、电路介绍： 这里介绍的人体反应速度测试器由 4个数字电路芯片和 10只LED 发光二极管等组成，可 ? 以测出你对信号的反应能力，并将反应能力分为 8段，段数越高反应速度越快，经常进行反映测试训练， 可以逐步提高你的反应速度。 ;本电路主要由3种共4只CMOS数字集成电路构成。 其中U1是双4位静态移位寄存器4015，其内部含有2组独立的 4位串入一并出移位寄存器，在本电路中将两组级联使用。 U2是四2输入端或非门电路4011，U3、U4是 6位反相器，具有较大的驱动电流能力，可以直接驱动发光二极管;二、电路的工作过程： 电源开关闭合后，LED10电源指示发光管点亮，之后延迟数秒，测试信号灯 LED1点亮，减法计数器电路在时钟脉冲的作用下开始递减，由 LED2---LED9组成的测试显示发光管依次熄灭， 在这个过程中， 当被测试人按下停止按钮K2时， 时钟脉冲停振， 减法计数器处于保持状态， LED2 ―― LED9 的熄灭个数将记录为被测试者的反应速度。;三、电路的工作原理： 由U4E、U4F、R16、R17、C4等组成多谐振荡器，做为时钟脉冲，其振荡周 期约为2.2×R17×C4，按照图中参数周期约为44ms， U2组成8位右移寄存器，U1B、R1、C1等组成开机延迟电路，当刚闭合电源开关K1 时，U1B的输出端为“1”，在时钟脉冲的作用下，U2的8位寄存单元迅速全为“1” ，几秒后，U1B的输出端变为“0”，经过U3A、U3B两级反向后，驱动测试信号灯 LED1点亮，同时U2的8位寄存单元将在时钟脉冲的作用下，从左到右依次变为“ 0”，当被测试者按下停止按钮K2时，由U1C、U1D组成的RS触发器置“0”，使U4E 、U4F停振，U2处于保持状态，结果通过U3C----U4D驱动发光二极管显示。这里的 U1A的作用是只有当测试信号灯LED1点亮后，按下停止按钮K2才能有效， ;四、焊接注意事项： 从正面看集成电路芯片，有半圆缺口的一边朝左，按照印板上的标识，分别将芯 片插在印板上。焊接CMOS数字集成电路时要注意，电烙铁要可靠接地， 或者拔下电源插头用余热焊接，防止感应静电击穿CMOS芯片。印制板上有6根跨接线， 分别用J1—J6表示，可用剪下的多余元件引脚 来焊装。发光二极管引脚较长的一级是正极，外圆带有一小段直线段的是负极， 可按照印板上的字符标识安装。 IN4148二极管管身带有黑色环的一端是负极。C1、C5 是电解电容，引脚较短的一端是负极，外皮 上一般也有“－”号标识。电池盒的引线按照印板标识的“＋”、 “－”极性正确连接，切勿接反。 全部元件焊装完毕后， 还要仔细检查一下，元件是否都已正确安装， 焊点是否牢固，焊盘、走线之间是否存在短;五、 通电测试： 全面检查完毕后，就可以接上电池进行测试了。 闭合电源开关K1，发光二极管LED10点亮，表明电源已接通，紧接着LED2-LED9 被迅速点亮，延迟几秒后，LED1点亮，表示测试开始，LED2-LED9迅速依次熄灭。 此时按下停止按钮K2，则LED2-LED9立即停止熄灭，保留状态。由于多谐振荡器 的周期大约为44ms，因此被测试人的反应速度为44ms×4＝176ms ，即0.176秒。如果电路工作不 正常，请再仔细检查装配是否都正确，按照工作过程，比照原理图， 分级分段检查故障点。 ?实际上通过改变R17或C4 的参数，可以调整多谐振荡器的频率，即可改变测试速度，已增加或降低 测试难度。改变R1、C1 的参宿阿可以改变通电后， 测试延迟开始的时间，让被测试者不好掌握测试规律， 提高测试的准确性和趣味性。当需要第??次测试时，现将电源开关 K1 关闭数秒后，再接通，进行新的;CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor），互补金属氧化物半导体， 电压控制的一种放大器件。是组成CMOS数字集成电路的基本单元。 在计算机领域，CMOS常指保存计算机基本启动信息 (如日期、时间、启动设置等)的芯片。有时人们会把CMOS和BIOS混称， 其实CMOS是主板上的一块可读写的ROM芯片，是用来保存BIOS的硬件配置 和用户对某些参数的设定。CMOS可由主板的电池供电，即使系统掉电， 信息也不会丢失。 CMOS制造工艺也被应用于制作数码影像器材的感光元件 （常见的有TTL和CMOS），尤其是片幅规格较大的单反数码相机。 虽然在用途上与过去CMOS电路主要作为固件或计算工具的用途非常不同， 但基本上它仍然是采取CMOS的工艺，只是将纯粹逻辑运算的功能转变成 接收外界光线后转化为电能，再透过芯片上的模-数转换器（ADC） 将获得的影像讯号转变为数字信号输;