时序电路测试向量的压缩.PDF

电子发烧友 电子技术论坛 时序电路测试向量的压缩 于文忠 牛道恒 杨士元 (清华大学 自动化系，北京 100084) 摘要：时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法， 减少测试序列的总长度，从而减少了仿真的时间和 ATE设备的测试的时间，加速了 测试的流程。实验结果表明，这种方法实现了较高的压缩效率，同时对测试序列的 故障覆盖率和故障分辨率等参数影响很小。 关键字：自动测试 时序电路 向量压缩 OCTOPUS100 ATE 中图分类号：TN43 文献标识码：A 基金项目：国家自然科学基金资助项目 0 引言 [1] 在利用故障字典法 进行对时序电路进行故障诊断时，首先要生成测试向量，然后仿真 生成故障字典。由确定性时序电路测试生成算法产生的向量(例如 HITEC[2])，采用与初态无 关技术针对每个故障进行测试生成，因此每个测试向量组是独立的。但在故障仿真和将测试 向量加到 ATE 设备时，向量是连续加入的。简单地将各组向量连接起来就有可能出现冗余， 因此可以通过一定的压缩算法来减少测试向量总长度。这使得仿真中要处理的数据减少，从 而加速仿真过程；同时也减少了 ATE 设备的测试时间。 压缩效率是衡量算法有效性的一个重要指标，定义：压缩效率=1-现在向量总的长度/ 原向量总的长度。压缩效率越大，说明原测试向量的冗余程度越高，压缩效果也就越好。 1 问题的数学描述 长度为 L1 的测试向量序列 P1,假设 P1 可以覆盖故障 Fx。P1 对应一个集合 G1，把 P1 某个X值变为0(或1)或在P1前(或后)增加任意的向量而产生的向量序列P2对应的集合G2, 则G2是G1的子集。向量序列P2一定可以覆盖故障Fx。以下面S641的一组测试向量序列(设 为 P1,对应集合为 G1)为例， --another pattern XXX1XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX X11XXX0XXXXXXXXXXXXX1XXXXXXXXXXXXXX X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX X00XXXXXX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX XXX0XXXXXXXXXXXX0XXXXXXXXXXXXXXXXXX 将向量序列中任意的 X 变为 0 或者1 产生的向量序列，例如以下向量序列(设为 P2, 对应集 合为 G2) --another pattern XXX1XXXXXXXXX1XXXXXXXXXXXXXXXX00000 X11XXX0XXXXXXXXXXXXX1XXXXXXX1XXXXXX X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX X00XXXXXX1X1XXXXXXXX1000XXX0XXXXXXX XXX0XXXXXX1XXXXX0XXXXXX1XXX0XX00000 则为新的向量序列是原来的测试序列的子集——即 G2⊆G1；在原测试向量序列 P1 前(或后) 增加任意的向量，例如以下向量序列(设为 P3, 对应集合为 G3)，第一个测试向量和最后一 个是新添加的 --another pattern ———————————— 作者简介：于文忠(1981— ) ，男，硕士生 电子发烧友 电子技术论坛 X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXX1XXX XXX1XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX X11XXX0XXXXXXXXXXXXX1XXXXXXXXXXXXXX X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX X00XXXXXX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX XXX0XXXXXXXXXXX