SPC统计过程控制【稀缺资源，路过别错过】.ppt

Distribution／分布状态 过程性能指数 PP=(USL-LSL)/6σS PPK=min[(USL-X)/3σS,(X-LSL)/3σS] 此时： CPK与PPK的区别 过程固有变差—仅由于普通原因产生的那部份过程变差，可以从控制图上通过R/d2来估计。 过程变差—由于普通和特殊两种原因所造成的变差，本变差可用样本标准差S来估计： Xi为单值读数 CMK指数：验证设备能力 CMK=(USL-LSL)/6σcmk 其中 合理子群 使用控制图的好处 合理使用控图： 供正在进行过程控制的操作者现场使用 有助于过程在质量和成本上能保持稳定 并可预测该过程在未来阶段发展的趋势 为讨论过程的性能和特性提供共同语言 区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 局部对策和系统改进 局部对策 由个别特殊原因偶然作用, 而形成的局 部奇异 . 一般在控制图上能即刻发现 , 变异的特征比较明显,原因容易分析,可 以采取具有针对性的措施, 加以解决 . 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 局部对策和系统改进 系统改进 由系统固有的普通原因相互连续作用, 而形成的带有一定规律或趋势性的变 化, 一般在控制图上, 以数据点非随机 排列出现, 变异的特征不明显, 原因不 易分析,采取的改进措施应持续观测,系 统的改进可以通过过程能力分析确认 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 谢谢大家 Thank you * 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 不合格数的 C 图 3. 过程控制图解释 4. 过程能力解释 与不合格品率 P 图一样 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 计数型数据控制图 计点特性 单位产品不合格数的 u 图 适用于控制一个特定单位内样本大小发生变化时, 了解平均单位所出现的相同检查项目的不合格点数 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 适用于测量 子组样本容量不同 子组内(单位产品)的不合格点数 单位产品不合格数的 u 图 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 1. 原始数据收集 2.计算控制界限 3.过程控制解释 4.过程能力解释 单位产品不合格数的 u 图 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 1. 原始数据收集 数据特征: 各子组样本的容量彼此不必都相同 容量保持在其平均值的正负 25 %. 单位产品不合格数的 u 图 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 1. 原始数据收集 1.1选择子组 1.1.1子组容量 子组数一般不少于25个 单值读数一般在100个,最好200个 每个子组都能包含不合格 单位产品不合格数的 u 图 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 1. 原始数据收集 1.1 选择子组 1.1.2选择控制图的坐标刻度 纵坐标: 单位不合格品数 u 横坐标: 子组识别 纵坐标刻度应是最大 u 值的2倍 单位产品不合格数的 u 图 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 1. 原始数据收集 1.2记录并描绘 u : 每个子组(内含n个样本)内 (单位产品)的不合格点数(c) 单位产品不合格数的 u 图 u = c n 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 1. 原始数据收集 1.3描绘控制图 描绘每个子组的 u 值 连接各点成折线图 记录可能影响过程的异常情况 单位产品不合格数的 u 图 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 例题原始数据表 单位产品不合格数的 u 图 统计过程控制 Statistical Process Control SPC 例题初始研究图 单位产品不合格数的 u 图 2. 计算控制界限 2.1计算单位产品过程平均不合格品数 u 统计过程控制 Statistical Process Control SPC k Σ i=1 u = C n i k 子组数 Ci 组内不合格数 单位产品不合格数的 u 图