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基材简介
1. 按制作工艺可分为: 1.1 电解铜箔(Electrodeposited copper foil ) 利用各种废弃之电线电缆熔解成硫酸铜镀液,在殊特深入地下的大型镀槽中,阴阳极距非常短,以非常高的速度冲动镀液,以600ASF之高电流密度,将柱状 (Columnar) 结晶的铜层镀在表面非常光滑又经钝化的不锈钢大桶状之转胴轮上(Drum),因钝化处理过的不锈钢胴轮上对铜层之附着力并不好,故镀面可自转轮上撕下,如此所镀得的连续铜层,可由转轮速度,电流密度而得不同厚度之铜箔,贴在转胴之光滑铜箔表面称为光面(Drum side), 另一面对镀液之粗糙结晶表面称为毛面 (Matte side)。析出之铜箔再经瘤化处理(增加表面积),耐热层处理(隔绝胺类引发之爆板)及抗氧化处理(防锈防污)即制成商品化之电解铜箔。 1.2 压延铜箔(rolled-wrought copper foil): 先由铜矿石提炼出粗铜。然后经过熔炼加工、电解提纯使它的纯度达到99.9%。并制成约2mm厚的铜锭。以它作为母材,再经酸洗、去油,反复多次在800℃以上高温度下进行热辊轧、压延(长方向的)加工。AN-W 型压延铜箔在此加工之后,进行高温退火,达到再结晶软化,再进行冷压延。如此加工反复进行至到其要求的厚度。而LTA-W型压延铜箔在高温辊压、压延加工之后,只进行冷压延加工。当以上两类压延铜箔制成为厚度小于0.1mm的生箔后,再在它的表面进行粗化处理、耐热层处理、防氧化处理等一系列的表面处理。 1.3 IPC对铜箔的定义: 按 IPC-CF-150 將銅箔分為兩個類型,TYPE E 表電鍍銅箔,TYPE W 表輾軋銅箔,再將之分成八個等級,class 1 到 class 4 是電鍍銅箔,class 5 到 class 8 是輾軋銅箔。現將其型級及代號分列於下表: 1.4 电解铜箔 VS 压延铜箔: 电解铜箔: 優點:價格便宜;可有各種尺寸與厚度; 缺點:延展性差; 應力極高無法撓曲又很容易折斷; 壓延铜箔: 優點:延展性Ductility高,對FPC使用於動態環境下,信賴度極佳; 低的表面稜線Low-profile Surface,對於一些Microwave電子應用是很有利; 缺點:和基材的附著力不好; 成本較高; 因技術問題,寬度受限。 2.1 高温延伸性铜箔(HTE:High temperature elongation electrodeposited); 多层印制电路板在压合时的热量会使铜箔发生再结晶现象,故需铜箔在高温(180℃)下仍保持常温时的稳定性。其特点主要表现在:尺寸稳定性,高柔韧性,多用于FR-4材质的多层板中。 2.2 反面处理铜箔(RTF:Reverse treated copper foil) 基板铜箔之光面朝内毛面朝外,其意义主要有: 改善良品率: 减少短路:由于其黏着表面菱线非常低,蚀刻时不会有残铜发生; 减少断路:由于干膜可以黏着的相当强固,所以断路之缺陷可以减至最低; 缩短制程: 速度提升:蚀刻速度较快,棕黑化处理较迅速; 无需微蚀; 线路可靠性: 线间及层间具有较好的绝缘功能; 具有高的蚀刻因子; 蚀刻因子( Etch Factor ): 蚀铜除了要做正面向下的溶蚀之外,蚀液也会攻击线路两侧无保护的铜面,称之为侧蚀(undercut),因而造成如香菇般的蚀刻缺陷, Etch Factor即为蚀刻品质的一种指针。 Etch Factor一词在美国(以 IPC 为主)的说法与欧洲的解释恰好相反。美国人的说法是正蚀深度与侧蚀凹度之比值,故知就美国人的说法是蚀刻因子越大品质越好;欧洲的定义恰好相反,其因子却是愈小愈好。很容易弄错。不过多年以来, IPC在电路板学术活动及出版物上的成就,早已在全世界业界稳占首要地位,故其阐述之定义堪称已成标准本,无人能所取代。 2.3 双面处理铜箔(DST:double-side treatment copper foil) 两面处理(Double treatment)指光面及粗面皆做粗化处理,严格来说,此法的应用己有20年的历史,但今日为降低多层板的COST而使用者渐多.在光面也进行上述的传统处理方式,如此应用于内层基板上,可以省掉压膜前的铜面理处理以及黑/棕化步骤。美国一家Polyclad铜箔基板公司,发展出来的一种处理方式,称为DST 铜箔,其处理方式有异曲同工之妙。该法是在光面做粗化处理,该面就压在胶片上,所做成基板的铜面为粗面,因此对后制亦有帮助。 2.4 超低菱线铜箔(VLP:Very low profile copper foil) 硅化处理(Low profile) 传统铜箔粗面处理其Tooth Profile (棱线)粗糙度(波峰波谷),不利于细线路的制造(影响just et
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