具错误侦测能力之晶片网路资料封包预取装置-朝阳科技大学资讯学院.PDF

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具錯誤偵測能力之晶片網路具錯誤偵測能力之晶片網路資料資料 封包預取裝置封包預取裝置 具錯誤偵測能力之晶片網路具錯誤偵測能力之晶片網路資料資料 封包預取裝置封包預取裝置 蔡文宗 呂柏陞 施又郡 朝陽科技大學資訊與通訊系 朝陽科技大學資訊與通訊系 朝陽科技大學資訊與通訊系 助理教授 學生 學生 azongtsai@.tw jay604132002@ asd8730873@.tw 摘要摘要 摘要摘要 1.前言前言 前言前言 在可預見的未來,傳統系統晶片 隨著積體電路 (IC)製程的快速演進,在相 System-on-Chip, SoC)內所採用的匯流排 同的單位晶圓面積下,電晶體密度急遽地增 (On-Chip Bus)架構,無論在功率消耗、性能要 加。相較於以往的產品,系統晶片 求、以及擴充彈性上,都即將難以滿足多核心 (System-on-Chip)能夠整合更多樣的元件與更 (Many-Core) 系統晶片內部元件間,因大量通訊 複雜的設計,以提供更豐富的功能與更強大的 所產生的複雜通訊需求。近年來,一種基於封 效能。面對此一高度集成之設計趨勢,晶片內 包 交 換 技 術 而 實 現 的 晶 片 網 路 元件間的連接架構也同時面臨著在軟硬體設 (Network-on-Chip, NoC)傳輸架構逐漸地受到 計上更嚴苛的挑戰。 各學術界與產業界的高度重視,然而其關鍵技 因積體電路製程的持續微縮,如深次微米 術之一的容錯 (Fault Tolerance)機制卻仍未瑧成 (Deep Sub-Micron)技術的發展,在不久的未 熟。本文提出一具錯誤偵測能力之資料封包預 來,晶片內部的通訊系統,正如同電腦或通訊 取裝置,並用以提升晶片網路的傳輸效能。 網路一般,無可避免地會遭受到各種錯誤的干 關鍵詞:系統晶片;多核心;晶片網路;循環關鍵詞 擾。通道傳輸功能的喪失,原因可能為因為電 關鍵詞關鍵詞 子遷移(Electronic Migration)造成金屬連線的 冗餘檢查碼;封包預取。 永久斷裂,或是軟性錯誤 (Soft Error)對於記憶 元件所產生的暫時性影響。其錯誤發生的時間 Abstract 可能是在系統開機後以靜態的方式呈現,也可 能是在系統運作時動態地發生。如果通訊機制 In the coming future, power 沒有支援相對應的容錯機制,則任何錯誤的發 consumption, performance requirement, and extension flexibility of a conventional 生,對於整個系統而言,即可能地會導致一連 串運作上的嚴重性失效 (Fatal Failure) 。針對傳 on-chip bus-based System-on-Chip, cannot satisfy diverse communication requirements 統容錯機制在效能上的不足之處,本文提出一 in the next-generat

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