实验13 直流电机测速实验.doc

实验13 直流电机测速实验 一．实验目的 了解直流电机工作原理；了解光电开关的原理；掌握使用光电开关测量直流电机转速。 二．实验设备 Star PCI9052、DMA $ 32 BIT RAM板卡一套、Star ES-PCI模块一块、STAR ES598PCI实验仪一套、PC机一台 三．实验内容 1、转速测量原理： 图1 强反射 图2 弱反射 图3转盘 本转速测量实验采用反射式光电开关，通过计数转盘通断光电开关产生的脉冲，计算出转速 (1) 反射式光开关工作原理：光电开关发射光，射到测量物体上，如果强反射，如图1，光电开关接收到反射回来的光，则产生高电平1；弱反射，如图2，光电开关接收不到反射回来的光，则产生弱电平0。 (2) 实验方法：本实验转速测量用的转盘在下表面做成如图3样子的转盘，白部分为强反射区，黑部分为弱反射区，转盘每转一圈，产生4个脉冲，每1/4秒计数出脉冲数，即得到每秒的转速。(演示程序中，LED显示的是每秒钟转速) 2、实验过程 (1) 由DAC0832给电机供电，使用光电开关，测量电机转速，再经调整，最终将转速显示在LED上。 (2) 通过按键调节电机转速，随之变化的转速动态显示LED上 四．实验原理图 五、实验步骤 1、主机连线说明： B3区：CS —— A3区：CS1 B3区：A0、INT —— ES-PCI：A0、IRQ B3区：INTA —— C3区：Y1 C3区：G2A、G2B —— ES-PCI：A7、IOR C3区：A、B、C、G1 —— C1区：GND、GND、GND、VCC C5区：CS(8253) —— A3区：CS2 C5区：A0、A1 —— ES-PCI：A0、A1 C5区：GATE0、GATE1 —— C1区：VCC C5区：CLK0 —— B2区：31250Hz C5区：CLK1 —— B2区：1M C5区：OUT0 —— B3区：IR0 F3区：CS —— A3区：CS3 F3区：OUT —— E2区：IN1 E2区：OUT1 —— F1区：CTRL F1区：REV —— B3区：IR7 E5区：CLK —— B2区：2M E5区：CS —— A3区：CS5 E5区：A0 —— ES-PCI：A0 E5区：A、B、C、D —— G5区：A、B、C、D 2、由DAC0832经功放电路驱动直流电机，计数光电开关通关次数并经过换算得出直流电机的转速，并将转速显示在LED上。 3、G5区的0、1号按键控制直流电机转速快慢， (最大转速≈96r/s，5V，误差±1r/s) 六、演示程序 (完整程序见目录SPEED) ;键盘、LED显示子程序请参阅综合实验一 .MODEL TINY EXTRN CMD_8279:WORD, DATA_8279:WORD EXTRN Display8:NEAR, SCAN_KEY:NEAR,GetKeyA:NEAR PCIBAR1 EQU 14H ;PCI9052 I/O基地址（用于访问局部配置寄存器） PCIBAR3 EQU 1CH ;8位I/O空间基地址(它就是实验仪的基地址, ;也为DMA 32 BIT RAM板卡上的8237提供基地址) PCIIPR EQU 3CH ;IRQ号 INTCSR EQU 4CH ;PCI9052 INTCSR地址 mask_int_9052 EQU 24H Vendor_ID EQU 10EBH ;厂商ID号 Device_ID EQU 8376 ;设备ID号 VoltageOffset EQU 5 ;0832调整幅度 .STACK 200 .DATA IO8259_0 DW 00F0H IO8259_1 DW 00F1H RD_IO8259 DW 0000H Con_8253 DW 00E3H T0_8253 DW 00E0H T1_8253 DW 00E1H DA0832 DW 00D0H IO_Bit8_BaseAddress DW ? PCI_IO_BaseAddress0 DW ? PCI_IRQ_NUMBER DB ? INT_MASK DB ? INT_Vector DB ? INT_CS DW ? ;保护原中断入口地址 INT_IP DW ? msg0 DB BIOS不支持访问PCI $ msg1 DB 找不到Star PCI9052板卡 $ msg2 DB 读PCI9052 I/O基地址时出错$ msg3 DB 读8位I/O空间基地址时出错$ msg4 DB 读IRQ号出错$ buffer DB 8 D