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吉昂 - EDXRF和WDXRF的比较
EDXRF和WDXRF的比较Compare of EDXRF and WDXRF 吉 昂 Ji Ang Shanghai institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 20005,China 摘要 本文就EDXRF谱仪与顺序式WDXRF谱仪的结构、谱仪分辨率、检出限、准确度和精度和分析时间诸方面予以比较,以便对两类仪器有较全面的认识。 WDXRF和EDXRF谱仪结构 Axios,Venus,Epsilon5,MiniPal WDXRF 早在上世纪八十年代末已很成熟,近十年来在智能化、软硬件方面均有很大的发展,如光源采用SST –mAX射线管,确保了射线管在电流强度高达160mA时仍能维持优异的稳定性,提高了仪器分析轾元素的能力。功率有2.4,3和4 kW之分。 根据用户要求开发了多种功能的分析软件模块,以PAnalytical公司为例,就有IQ+无标定性/定量分析软件;FP-Multi多层分析软件;Pro-Trace痕量元素分析软件;SPC过程统计控制软件;OIL-痕量元素分析软件等。 EDXRF谱仪 1.便携式(手持式)PEDXRF谱仪 2.微束MEDXRF谱仪 3.通用EDXRF谱仪? 4.高能HEDXRF谱仪 便携式(手持式)EDXRF谱仪? 便携式合金成分分析仪? Micro-EDXRF Micro-EDXRF 应用聚束毛细管透镜的微束XRF谱仪的优点在于增强小面积区域的光强,使信号增强; 输出束斑最小可达10~20?; 在司法监定、文物考古等领域已作为常规分析手段。 常规EDXRF谱仪 实验室用的EDXRF谱仪向专业化和通用性两个方向发展,Panalytical公司生产MiniPal型EDXRF谱仪,因探测器不同分为两类:用Si-PIN探测器的MiniPal2,用Si漂移探测器的MiniPal 4型,其中又分为专业用仪器如用于水泥、油中硫和ROSH WEE。 MiniPal 4 EDXRF谱仪 高能偏振EDXRF 1999年Harada等详细报导了实验室中应用高能X射线能量 色散荧光谱仪的优点,2004年Nakai对高能X-射线荧光光 谱近况和应用作了评述,他介绍了唯一商品仪器--2003年 PANalytical公司推出Epsilon 5 EDXRF光谱仪。 高能偏振EDXRF 1999年Harada等详细报导了 实验室中应用高能X射线能 量色散荧光谱仪的优点, 2004年Nakai对高能X-射线 荧光光谱近况和应用作了 评述,他介绍了唯一商品 仪器--2003年PANalytical公 司推出Epsilon 5 EDXRF光 谱仪。 高能偏振EDXRF-Epsilon 5 EDXRF Epsilon 5 EDXRF谱仪是三维光路结构,确保实施高度偏振;可在100kV高电压、 功率600W情况下工作,使用Gd靶或Sc-W复合靶的 X射线管;为了对周期表中从 Na到U进行选择激发,配置了九个二次靶。 配备了高纯Ge探测器,分辨率小于140eV,可满足1~100keV能量区间的X射线 检测,对重元素的K系线测量效率接近100%。 该仪器具有在管电压确定情况下,为适应不同类型的样品检测,对管电流自 动调节,以保证样品的最佳激发效率。 探测器接收的电脉冲由复杂的电子学系统组成,该仪器在MCA等电子学系统 采用了许多新技术。 谱处理的目的是获得所分析待测元素的特征谱线的净峰面积。在测量谱中含 有待测元素的K系、L系、M系线、逃逸峰(可能来之于K系、L系、靶的瑞利散射 线和康谱顿散射线)、和峰(可能来之于K系、L系、靶的瑞利散射线和康普顿散射 线) 、 二次靶的瑞利散射线和康普顿散射线。因偏振不完全,残存的原级谱的特 征谱和连续谱在样品中的散射线。此外还需要拟合背景和谱峰的拖尾。对于一个 含量较高的重元素最多可能有43条谱线要处理,解谱方法是由比利时安特卫普大 学开发的。 高能偏振EDXRF EDXRF和WDXRF性能和特点比较 测量方式Cu,Zn的K系线谱扫描图LiF220,ZnKα(8.63keV)=60.580,CuKβ(8.90keV)=58.530, EDXRF测峰面积 Axios测峰位强度 谱仪引起的谱线干扰 EDXRF-和峰:如Cl对Cr,Fe对PbLβ1,Br对Cd的干扰 WL系线和峰 WDXRF-高次线和晶体荧光 和峰干扰 检出限 WDXRF背景校正:理论背景校正法、实测背景扣除法、康普吨散射校正法、经验公式校正法。 WDXRF计算LLD EDXRF背景的扣除 EDXRF:背景依赖于连续谱的拟合,是很复杂的,
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