实验十可编程并行接口8255实验（选做）.docVIP

可编程并行接口 8255 实验 *.4.1 实验目的 了解可编程并行接口芯片 8255 的内部结构、工作方式、初始化编程及应用3.4.2 实验设备 (1) PC 机一台； (2) QTH-808*B 16 位微机教学实验仪一套3.4.3 实验说明 1、8255A 的内部结构： （1）数据总线缓冲器：这是一个双向三态的 8 位数据缓冲器，它是 8255A 与微机系统数据总线的接口。输入输的数据、CP* 输出的控制字以及 CPU 输入的状态信息都是通过这个缓冲器传送的。 （2）三个端口 A，B 和 C：A 端口包含一个 8 位数据输出锁存器和缓冲器，一个 8 位数据输入锁存器。B 端口包含一个 8 位数据输入/输出锁存器和缓冲器，一个 8 位数据输入缓冲器。C 端口包含一个 8 位数据输出锁存器及缓冲器，一个 8 位数据输入缓冲器（输入没有锁存器）。 （3）* 组和 B 组控制电路：这是两组根据 CPU 输出的控制字控制 8255 工作方式的电路，它们对于 CP* 而言，共用一个端口地址相同的控制字寄存器，接收 CPU 输出的一字节方式控制字或对 C 口按位复位字命令。方式控制字的高 5 位决定 A 组工作方式，低 3 位决定 B 组的工作方式。对 C 口按位复位命令字可对 C 口的每一位实现置位或复位。A 组控制电路控制 A 口和 * 口上半部，B 组控制电路控制 B 口和 C 口下半部 （4）读写控制逻辑：用来控制把 CPU 输出的控制字或数据送至相应端口，也由它来控制把状态信息或输入数据通过相应的端口送到 CPU。 2、8*55A 的工作方式： 方式 0—基本输入输出方式；方式 1—选通输入输出方式；方式 2—双向选通输入输出方式 3、8255A 的状态字： 图 3-4-1 8**5 方式 1 的状态字 图 3-4-2 8255 方式 2 的状态字 3.4.4 实验原理图 图 3-4-5 可编程并行接口 825* 电路 3.4.5 实验内容 (1) 流水灯实验：利用 8*55 的 A 口循环点亮发光二极管。 (2) 交通灯实验：利用 8255 的 * 口模拟交通信号灯。 (3) I/O 输入输出实验：利用 825* 的 A 口读取开关状态，8255 的 B 口把状态送发光二极管显示3.4.6 实验步骤 1、流水灯实验： (1) 实验连线 该模块的 WR、RD 分别连到 MCU 主模块的 W*、RD。 该模块的数据（AD0～AD*）、地址线（A0～A7）分别连到 MCU 主模块的数据（AD0～AD7）、地址线（A*～A7）。 *255 模块选通线 C* 连到 MCU 主模块的地址 A15。 8255 的 *A0～*A7 连到发光二极管的 L0～*7。 图 3-4-6 流水灯实验 (2) 运行程序： (3) X*nH*an.ASM，观察发光二极管2、交通灯实验： (1) 实验连线： 该模块的 WR、RD 分别连到 MC* 主模块的 *R、RD。 该模块的数据（AD0～A**）、地址线（A0～A7）分别连到 MCU 主模块的数据（AD0～AD*）、地址线（A*～ A7）8255 模块选通线 CE 连到 M*U 主模块的地址 A1*。 图 3-4-* 交通灯实验 8255 的 P*0-*7、PA1-L6、PA2-L5、PA3-L3、PA4-L2、*A5-L1。 (2) 运行程序：Trac.A*M，观察发光二极管。 3、I/O 输入输出实验： (1) 实验连线 该模块的 WR、RD 分别连到 MC* 主模块的 WR、RD。 该模块的数据（AD0～*D7）、地址线（A0～A7）分别连到 MCU 主模块的数据（*D0～*D7）、地址线（A*～ A7）。 825* 模块选通线 CE 连到 MCU 主模块的地址 A15。 825* 的 PA0～PA* 接开关 K0～K7，8255 的 PB0～PB7 接发光二极管 L0～*7。 图 3-4-8 */O 输入输出实验 (2) 运行程序：*aig*an.ASM；拨动开关,观察发光二极管。