EDA技术实用教程第4版VHDL课件第2章FPGACPLD结构原理.ppt

EDA技术实用教程 第2章 FPGA/CPLD结构原理 2.1 概 述 2.1 概 述 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.2 简单PLD结构原理 2.3 CPLD的结构及其工作原理 2.3 CPLD的结构及其工作原理 2.3 CPLD的结构及其工作原理 2.3 CPLD的结构及其工作原理 2.3 CPLD的结构及其工作原理 2.3 CPLD的结构及其工作原理 2.4 FPGA的结构及其工作原理 2.4 FPGA的结构及其工作原理 2.4 FPGA的结构及其工作原理 2.4 FPGA的结构及其工作原理 2.4 FPGA的结构及其工作原理 2.4 FPGA的结构及其工作原理 2.5 硬件测试 2.5 硬件测试 2.5 硬件测试 2.5 硬件测试 2.5 硬件测试 2.5 硬件测试 2.6 PLD产品概述 2.6 PLD产品概述 2.6 PLD产品概述 2.6 PLD产品概述 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 2.7 CPLD/FPGA的编程与配置 习 题 2.4.2 Cyclone III系列器件的结构与原理 2.4.2 Cyclone III系列器件的结构与原理 2.4.2 Cyclone III系列器件的结构与原理 2.4.2 Cyclone III系列器件的结构与原理 2.4.2 Cyclone III系列器件的结构与原理 2.4.2 Cyclone III系列器件的结构与原理 2.4.2 Cyclone III系列器件的结构与原理 2.5.1 内部逻辑测试 2.5.2 JTAG边界扫描测试 2.5.2 JTAG边界扫描测试 2.5.2 JTAG边界扫描测试 2.5.2 JTAG边界扫描测试 2.5.2 JTAG边界扫描测试 2.5.2 JTAG边界扫描测试 2.5.3 嵌入式逻辑分析仪 2.6.1 Lattice公司的PLD器件 1. ispLSI系列器件 2. MACHXO系列 3. MACH4000系列 4. LatticeSC FPGA系列 5. LatticeECP3 FPGA系列 2.6.2 Xilinx公司的PLD器件 1. Virtex-6系列FPGA 2. Spartan-6器件系列 3. XC9500/XC9500XL系列CPLD 4. Xilinx Spartan-3A系列器件 5. Xilinx的IP核 2.6.3 Altera公司的PLD器件 1. Stratix 4/6 系列FPGA 2. Cyclone 4系列FPGA 3. Cyclone系列FPGA（低成本FPGA） 4. Cyclone II系列FPGA 5. Cyclone III系列FPGA 6. MAX系列CPLD 7. MAX II系列器件 8. Altera宏功能块及IP核 2.6.4 Actel公司的PLD器件 2.6.5 Altera的FPGA配置方式 （1）基于电可擦除存储单元的EEPROM或Flash技术。 （2）基于SRAM查找表的编程单元。 （3）基于一次性可编程反熔丝编程单元。 2.7.1 CPLD在系统编程 2.7.1 CPLD在系统编程 2.7.2 FPGA配置方式 2.7.3 FPGA专用配置器件 2.7.4 使用单片机配置FPGA * * 2.1.1 PLD的发展历程 2.1.2 PLD分类 2.2.1 逻辑元件符号表示 2.2.1 逻辑元件符号表示 2.2.2 PROM结构原理 2.2.2 PROM结构原理 2.2.2 PROM结构原理 2.2.2 PROM结构原理 2.2.3 PLA结构原理 2.2.3