测试技术与信号处理小测 - 2017 -解析final.pdf

测试技术与信号处理 测试技术与信号处理 Measurement and Testing Techniques And Signal Processing 小测 1/14 测试技术与信号处理 第一章 • * 1 ．对多次测量的数据取算数平均值，就可以 减少随机误差的影响。（√ ） • 2．传感器的线性范围越宽，表明其工作量程越 大。（√ ） • 3．一台仪器的重复性很好，但测得的结果并不 准确，这是由于存在随机误差的缘故。（×） • 4．一台仪器的重复性很好，但其静态测量结果 也可能存在很大的误差。（√ ） • 5．频率不变性原理是指任何测试装置的输出信 号的频率总等于输入信号的频率。（√） 2/14 测试技术与信号处理 第二章 • 1．凡频谱是离散的信号必然是周期信号。（×） • 2. 平稳随机过程的时间平均统计特征等于该过程 的集合平均统计特征。（√）书P37 • 3．非周期性变化的信号就是随机信号。（×） • **4 ．非周期信号的幅值谱表示的是其幅值谱密度 与时间的函数关系。（ ×） • 5. 由周期信号相互叠加的信号必为周期信号( ×) 3/14 测试技术与信号处理 第四章 1．半导体应变片是基于材料的 （B ）工作的。 A ．应变效应B．压阻效应 C．热电效应D．压电效应 4/14 测试技术与信号处理 2. （D ）传感器属于根据敏感 元件材料本身的物理性质变化 而工作的物性型传感器。 A ．电感式B．电容式 C．磁电式D．压电式 5/14 测试技术与信号处理 • 3．电阻应变片的灵敏度定义为（B ）。 • A．应变片的电阻变化与应变之比； • B．应变片电阻的相对变化与应变之比； • C．应变片的电阻变化与形变之比； • D．应变片电阻的相对变化与形变之比。 • 注： 应变-微观角度，物体内任一部分（单元体）因 外力作用引起的形状和尺寸的相对改变。 形变-宏观角度，物体外部形状和尺寸的变化。 6/14 测试技术与信号处理 • 4. 半导体应变片在测量某一构件应变时， 其电阻相对变化是由（B ）来决定的。 • A．变形；B．电阻率的变化； • C．弹性模量的变化；D．泊松比的变化 7/14 测试技术与信号处理 5 金属丝应变片在测量某一构件的应变时， 其电阻的相对变化主要由（B ）引起的。 • A．贴片位置的温度变化； • B．电阻丝几何尺寸的变化； • C．电阻材料的电阻率的变化。 8/14 测试技术与信号处理 ** 6、压电式加速度传感器的基本原理是（ B ） • A、压阻效应 • B、正压电效应 • C、负压电效应 • D 、霍尔效应