AVR单片机的新型光电整纬检测设备的研制.pdf

第 卷 第 期 天 津 工 业 大 学 学 报 29 5 Vol.29 No.5 年 月 2010 10 JOURNAL OF TIANJIN POLYTECHNIC UNIVERSITY October 2010 基于AVR 单片机的新型光电整纬检测设备的研制 邓 玉，张冬梅 （青岛理工大学 通信与电子工程学院，山东 青岛 266033） 摘 要：针对国内整纬装置的自动化程度亟待提高的现状，提出一种新型的基于AVR 单片机的光电整纬检测设备. 本设计选用ATmega128 为CPU，应用光电检测原理，采用旋转式狭缝检测，在单片机内部实现AD 转换，可 对织物纬纱进行有效迅速的纬斜检测，检测精度可达0.25°. 关键词：光电整纬；检测；织物；狭缝；纬斜 中图分类号：TS103.134 ； TP274.5 文献标志码：A 文章编号：1671－024X （2010）05－0085－04 Development of a new photoelectric weft-straightening system based on AVR microcontroller DENG Yu，ZHANG Dong-mei （School of Communication and Electronic Engineering ，Qingdao Technological University ，Qingdao 266033，China） Abstract ：Due to the present situation of urgent need in the automation level of the domestic weft-straightening devices ， a new photoelectric detection system for weft-straightening based on AVR microcontroller was developed. The design uses ATmega128 as the CPU，adopts photoelectric detection technology with rotary slot ，and an AD transformation inside the MCU. This design can detect the distortion of the weft effectively and rapidly. The precision may amount to 0.25°. Key words ：photoelectric weft-straightening ；detection ；weft ；slot ；distortion of the weft 现代科技信息化的发展对纺织工业产品质量提 1 系统工作原理 出了新的要求，纺织工业各种设备的更新改进已经成 为必然. 由于各种原因，织物在染整前经常会出现纬 传统的织物整纬检测方式采用2～3 个固定狭缝 纱弯曲或纬斜的情况. 要保证印染的质量，印染前，必 检测纬斜，每个狭缝只检测固定的纬斜角度. 因固定 须要经过整纬装置来校正纬纱变形. 目前国内光电整 狭缝个数的限制，使得检测精度无法满足实际要求. 纬设备相对于国外还有一定的差距，主要体现在检测 本课题采用旋转狭缝检测头来对织物纬斜程度进行 精度和反应速度等技术指标上. 整纬效果主要取决于