[企业管理]SPC--统计过程分析.ppt

统计过程控制——SPC 讲师 郝启波 讲师简介 82年1月毕业于合肥工业大学精密计量仪器专业 IRCA注册ISO9000主任审核员 CNAT注册ISO14001咨询师 CNAT注册ISO9001咨询师 ISO/TS 16949:2002咨询师 中国机械计量分会理事 卓润企业管理咨询公司高级咨询顾问 高级工程师 内容提要 一、持续改进及统计过程控制概述 二、计量型数据控制图、均值和极差图 三、均值和标准差图 四、中位数图 五、单值和移动极差图 六、计数型数据控制图 SPC定义 SPC就是依据统计的逻辑来判断制程是否正常，是否应采取改善对策的一套管理系统。 2SPC3 1.过程 2.分析 3.控制 一、持续改进及统计过程控制概述 习惯的误差分类方式 随机误差 系统误差 粗大误差 8. 控制图 控制图的分类 分析型控制图 利用所采集的数据对过程进行分析,包括计算控制限,分析过程是否受控,计算过程能力指数等 控制型控制图 利用分析型控制图得出的控制限,均值等.对过程进行监控,发现异常 二、计量型数据控制图 计量型数据，即能说明合格与否又能说明其程度的连续型数据。 常数表 常数表 异常判别 超出控制限的点 非随机图形—有规律变化(连续14点交替上下变化) 连续7点位于平均值一侧 连续6点上升或下降(变化) 90%或40%的点落在1/3区域 连续15点在1/3区域内 连续8点在1/3区域外 4/5的全落在1/3区域外 2/3的全落在2/3区域外 过程能力计算（一） 设备能力指数 过程能力指数 或 中较小值 其中Ca为偏离系数 一般Ca25%可接受 偏离系数 式中 为偏离值，T为规范公差 即过程中心偏离规范（公差）中心的程度 当Ca=0时，Cp=Cpk 控制图应用步骤（分析） 1.确定控制参数 2.确定子组容量n和抽样频率 3.抽样,检测,记录 4.计算子组内均值X和极差R 5.计算总均值X和平均极差R 6.确定刻度并绘制控制图 7.计算并绘制控制限 8.描点,连线 9.分析控制图有无异常 10.无异常时计算平均偏差 11.计算制程能力CPK 12有异常时计算标准差(X-S图) 13计算制程能力PPK 控制图应用步骤（控制） 1.按控制计划要求确定参数，频率子组容量； 2.根据分析结果确定刻度、控制限； 3.画出控制图初表； 4.抽样、检测、记录、描点； 5.分析有无异常； 6.针对异常采取措施。 三、均值和标准差图 常数表 控制图 控制限为 S控制图 上限 下限 常数表 标准偏差 计算 过程能力指数计算（二） 设备能力指数 过程能力指数 或 中较小值 式中Pa与Ca相似 Cpk和Ppk的使用选择 Cpk仅用于统计稳定的过程 四、中位数图 中位数图（ 图） 易于计算，车间工人可接受 小组容量一般为奇数 小组容量为偶数时，计算中间两数平均值 小组容量一般≤10 一般用做控制，较少用于分析 使用步骤 选定控制参数 确定抽样频率 确定小组容量（一般奇数） 抽样、检测、描图 计算控制线 控制过程分析（异常发现） 过程能力分析 五、单值和移动极差图 单值和移动极差图（X-MR图） 一般用于流程性材料 子组数一般100结果才可靠 可按子组取样时，尽量少用 使用步骤 选择控制参数及取样点 确定频率，最好为100点以上 确定移动组容量，一般为2；少量用3，4…… 取样、检测、描图 计算和分析 注意：极差数比单位读数少 计算控制限 均值 极差 过程能力 平均偏差 d2与均值极差图相同 图示 六、计数型数据控制图 计数型数据控制图 不合格品率的P图 不合格品数的nP图 不合格数的C图（相同容量） 单位不合格数的u图 不合格品率的P图 小组容量 u50~250能出现几个不合格品 频率 小组数25 适用于关心不合格品率的过程 计算控制限 控制限 注意：n变化≤25%以均值计算 当n变化25%时单独计算，控制限变为阶梯线 分析同前 不合格品数的np图 样本容量相等 与p图相似 适用于关心不合格品数的过程 计算控制限 注：np是一个整体符号 不合格数C图 样本恒定 每个产品可以有几个不合格 控制限计算 单位不合格数的u图 与C图相似 样本可以不相同 控制限计算 单值控制在检查过程