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第二章 ICT测试原理 2.1 开路及短路测试原理 2.1.1 为什么要学习短路群？ 短路测试是要测试出待测电路板上不被预期的短路现象，但是电路板上通常会有一些预期的短路存在，如Jumper、Fuse、小电阻、电感等小于短路阀值的元件存在。故短路学习时，能将预期的短路行成一短路群，以节省测试程式的准备时间，同时加快测试速度。 另一方面，电路板开路测试是要测试出待测电路板上预期的短路元件是否因为错件或漏件而造成开路。故在开路测试时，可以测试出Fuse、Jumper、小电阻、电感、trace等小于短路阀值的元件是否Open。 2.2.2 如何学习短路群 ICT提供一个直流电流源到两个测试点，以确认两个测试点之间的阻抗值。计算机会把两个测试点之间的阻抗值X分为四组： 阻抗值 X≤5Ω 5ΩX≤25Ω 25ΩX≤55Ω X55Ω 机器识别值 0 1 2 3 机器显示值 1 1 3 4 在开短路学习时，ICT会将测试针点之间阻抗小于25Ω的点自动聚集成不同的短路群。需要学习的时间随着量测点数的增加而增加。开短路学习时必须确定电路板是良好的，否则学习到的短路群可能是错误的。 2.2.3 开短路测试 开路测试时，在任一短路群中任何两点之间的阻抗值不能大于55Ω，否则即为开路测试不良。 短路测试时可以分为以下三种情况，若有其中之一的情况发生，即判定为短路测试不良： 在短路群中任何一点与非短路群中任一点之阻抗小于5Ω； 不同短路群中任两点之间阻抗小于5Ω； 非短路群中任两点之阻抗小于5Ω； 2.2 隔离测试原理 2.2.1 为什么要隔离？ 图2.2.1 2.2 隔离测试原理 ICT内部电路中会提供一个OP放大器做为隔离点，因测试信号源的不同，隔离点的选择会分为以下两种情况： 当测试信号源采用电流源时，则在相接组件一之另一脚加上一等高电位能(Guarding Point)，以防止电流流入与被测组件相接之旁路组件，确保量测的精准性。此时隔离点的选择必须以和被测组件高电位能脚(Hi-Pin)相接之旁路组件为参考范围(如图2.2.2-1所示)。 当测试信号源采用电压源时，则在相接组件二之另一脚加上一等低电位能(Guarding Point)，以防止与被测组件相接之组件所产生的电流流入，而增加量测的电流，影响量测的精准性。此时隔离点的选择必须以和被测组件低电位能脚(Low-Pin)相接之旁路组件为参考范围(如图2.2.2-2所示)。 图2.2.2-1 信号源采用电流源 图2.2.2-2 信号源采用电压源 2.3 电阻测试原理 2.3.1 固定电流源模式（mode0） 根据电阻阻值大小的不同，ICT会自动选择一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用（如表2.3.1），这样才不会因使用者的选择不当，而产生过高的电压烧坏被测试组件，其测试原理为：提供一个适当的固定电流源I，流经被测电阻R，再量测电阻R两端的电压Vr，根据欧姆定律Vr=I*R，即可得知被测电阻R值(如图2.3.1)。 图2.3.1 固定电流源模式（mode0） 范围 电流 1Ω～299.99Ω 5mA 300Ω～2.99KΩ 500μA 3KΩ～29.99KΩ 50μA 30KΩ～299.9KΩ 5μA 300KΩ～2.99MΩ 0.5μA 3MΩ～40MΩ 0.1μA 表2.3.1 电流源范围 2.3.2 低一档电流源（mode1） 若电阻并联一个二极管或IC保护二极管（如图2.3.2），那么在测试时，如果电阻两端的电压超过0.5V～0.7V，那么根具二极管的特性，电阻的两端将被维持在0.5V～0.7V之间，无法正确地测试出电阻两端的真实电压。解决方法是将固定电流源的电流降低一个档次（如表2.2.2），使二极管不能正向导通，此时测试方式就如mode1一样。 图2.3.2 低一档电流源模式（mode 1） 范围 电流 1Ω～299.99Ω 500μA 300Ω～2.99KΩ 50μA 3KΩ～29.99KΩ 5μA 30KΩ～299.9KΩ 0.5μA 300KΩ～2.99MΩ 0.1μA 表2.3.2 低一档电流源范围 2.3.3 快速测试模式（mode 2） 如果被测电阻并联一个0.3UF以上的电容，若采用上述固定电流源模式，那么需要花很长时时间让电容充电饱和，再去量测电阻两端的电压Vr，从而得到电阻值R，这样测试就会增加很多测试时间。解决方法是固定电流源该为0.2V直流电压源，直接加在电阻两端，就能快速对电容C充电饱和至Ic=0，再测试流经电阻端的Ir，因为V