[信息与通信]Tokind料位扫描仪34p.ppt

料位测量原理  超声波 优点： 非接触 局限性：粉尘影响/凹凸面影响 非接触雷达 优点：非接触 局限性：介电常数有要求/粉尘影响/凹凸面影响 导波雷达 优点：对某个点的测量 局限性：介电常数有要求/挂料/拉力影响 料位测量原理  激光 优点：非接触 局限性：粉尘影响/凹凸面影响 射频导纳料位计 优点：点接触 局限性：介电常数有要求/时漂/温漂/挂料/拉力 料位测量原理  重锤料位计 优点：直接测量/手动控制 局限性：埋锤/乱绳 r射线式料位计 优点：非接触、稳定 局限性：有污染 称重 优点：可以测量质量/体积 局限性：抗震问题/物料面状况不知/价格高 料位扫描仪  扫描粉料的表面 克服粉尘影响 非接触 没有挂料、拉力影响 环保产品 与介电常数无关 体积测量 可视性 什么是料位扫描仪 传感器对局部区域进行扫描，获得凹凸面不同位置的高度数据， 输出料位信号是局部区域的平均值 软件支持下，可以在DCS 对粉体表面3维成像，像看得见内部物料分布状态 测量筒仓粉体体积 工作原理 料位扫描仪扫描粉体表面，接收从仓内物料表面返回的低频声波 扫描仪探测： 到物料表面的距离（每一声波折返的时间） 声波在仓料表面的什么位置返回（通过每一个天线接收折返声波的时间差计算出折返声波的角度） 回波的数据转换成物料表面形状的网格点，从而由管理软件（ 3DLevelManager™）构造出仓料的三维映像。 工作原理-专利算法 信噪比（SNR ）– 信噪比决定三维料位扫描仪测量料位的能力。 网格点（Mapping Points ）– 每一被测回声返回点的 X, Y 和 Z 坐标，料仓顶部中心的坐标是0,0,0。 R距离（R distance） –R距离是被测点到扫描仪法兰面中心的绝对距离。 Z距离（Z Distance） – 被测点的X, Y 和 Z 坐标中的Z坐标，是被测点到顶部的垂直距离： {(X-X0)² +(Y-Y0) ²+(Z-Z0)^2}^½ = R X0,Y0,Z0 是扫描仪的坐标。 满仓空仓标定（Full Empty Calibration） – 从扫描仪法兰面到100%体积和0%体积的平均距离。 Z Distance (17.3) R Distance (26) 工作原理-特色 料位扫描仪采用的是低频声波。（标准4.5kHz） 宽测量角度 - 频率越低测量角度越宽（可达70°角） 粉尘穿透技术 - 在湿度大粉尘多的环境下低频声波有非常好的表现。 面的测量-改变传统对点的测量方法 自洁功能-震动使传感头清洁 工作原理-高精度料位扫描仪和单点测量设备的对比 比较三维料位扫描仪 和单点测量设备测量体积（%）的精度。 筒仓尺寸是: 直径=φ10m, 高度=20m. 仓内物料形成45°的锥形斜坡。 三维料位扫描仪的体积测量精度 = 1.55% 激光单点设备的体积测量精度 = 16% 20 10 系列产品 三维料位扫描仪 1P0(S) 对局部区域粉体表面测量，输出平均值 改变对点测量的概念 三维料位扫描仪 2V0(M) 具有三维成像计算的能力 体积测量 三维料位扫描仪 3VB(MV) 具有显示三维映像的能力 体积测量和可视性 三维料位扫描仪 3VX 多个扫描仪集成(通过PC)在一个料仓中仿照一个扫描仪的方式工作 料位扫描仪1P0 30 °角的波束宽度 – 覆盖区域广（相对于其它传统的料位测量设备） 响应快 – 适用于小型筒仓，也满足快速进/出料筒仓对测量设备快速跟踪响应的要求 测量输出仓料平均距离/料位 测量输出仓料平均体积 (4mA~20mA) 可启用线性模式 (用于非标准和区段筒仓） 料位扫描仪2V0 70 °角的波束宽度 – 覆盖宽广的料位表面 适用于需要高精度测量和库存控制的大型料仓 测量输出仓料最大/最小和平均距离 测量输出仓料平均体积 (4mA~20mA) 三维测量 – 测量仓料表面区域的网格点 无三维映像输出 料位扫描仪3VB 70°角的波束宽度 – 覆盖宽广的料位表面 适用于需要高精度测量和库存控制的大型筒仓 测量输出仓料最大/最小和平均距离 测量输出仓料平均体积 (4~20) mA 三维测量 – 监测仓料表面区域的网格点 有三维映像输出 视觉映像 (仅限于3VB) 要观看料位的三维映像，点击 “viewVisual Mapping” 通过点击“Switch Views”菜单，切换放大/缩小的图像 3DLevelManager 主要窗