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简易频率特性测试仪(E题)
摘 要
本系统是基于零中频正交解调原理的简易频率特性测试仪,用于检测被测网络的幅频特性和相频特性。该系统主要包括DDS集成模块,RLC串联谐振电路,乘法器电路,低通滤波器,同相放大器和测量显示模块,其中RLC串联谐振电路作为被测网络。本系统以DDS集成模块为核心,将其产生的正交扫频信号通过被测网络后,经乘法器得到高频信号;这两个信号经过低通滤波、同相放大后得到符合要求的I、Q直流分量;最后通过单片机进行ADC采样、数据处理和液晶显示,得到被测网络的幅频特性和相频特性。本系统在算法上的创新之处是,在测量之初,采用短接被测网络即内测校准的方法减小了系统误差。经最终测试,本系统能很好地完成被测网络的频率特性测试。
1 系统方案
1.1 方案比较与选择
1.1.1扫频信号源
方案一:采用锁相环间接频率合成方案。锁相环频率合成在一定程度上解决了既要求频率稳定精确、又要求频率在较大范围可调的矛盾。但输出频率易受可变频率范围的影响,输出频率相对较窄,不能满足题目1MHz-40MHz的高频要求。
方案二:采用直接数字频率合成(DDS)方案。DDS技术具有输出频率相对较宽,频率转换时间短,频率分辨率高,全数字化结构便于集成,以及相关波形参数(频率、相位、幅度)均可实现程控的优点。采用集成芯片AD9854或FPGA可实现题目对扫频信号源的要求。因此选用方案二。
1.1.2控制平台
方案一:采用FPGA或CPLD进行控制。利用FPGA可以方便地实现DDS信号源,但在液晶屏上显示幅频特性曲线和相频特性曲线较为困难,且FPGA成本较高。
方案二:采用C8051F020单片机进行控制。C8051F020与8051兼容,速度可达25MIPS;它内部有两路ADC,速度分别为100ksps(12位)和500ksps(8位);它具有4352字节内部数据RAM,64K字节的FLASH存储器,支持在线编程。若选用C8051F020作为扫频仪的控制单元,用其实现产生扫频信号、进行数据采集、处理以及波形显示的功能,能够满足题目要求,且其性价比高。因此选用方案二。
1.1.3低通滤波器
方案一:采用有源滤波。有源滤波在实现滤波的同时可实现增益的调节,但电路较为复杂。
方案二:采用无源滤波。无源滤波电路在实现上更加方便简单。若要实现增益可控,直接在其后面加一个同相比例放大器即可。因此选用方案二。
1.2 方案描述
系统总体框图如图1所示。采用DDS芯片AD9854及C8051F020单片机作为控制单元产生扫频信号,辅以按键控制实现1MHz-40MHz,最小步进100KHz范围内的连续扫频输出和点频测量。RLC串联谐振电路用作被测网络。经AD835乘法器和低通滤波器得到同相分量和正交分量的直流信号,ADC转换送入单片机,在单片机内进行数据处理,计算得到相位和幅度,通过液晶显示幅频特性和相频特性曲线。
图1 系统总体框图
2 理论分析与计算
2.1 系统原理
设正交信号源产生的信号经被测网络后的输出为。
则同相分量支路:
(1)
低通滤波后(假设滤波器对幅度的影响为C):
(2)
类似的,得到正交分量支路:
(3)
低通滤波后(假设滤波器对幅度的影响为C):
(4)
由(2)式和(4)式,可得相位:
(5)
幅度:
(6)
2.2 滤波器设计
经乘法器输出的信号如式(1)、(3)所示,需设计低通滤波器,滤除高频分量,留下直流分量。据式(1)、(3)分析,滤波器截止频率低于1MHz即可,但考虑到电路会不可避免地产生其他频率干扰,因此低通滤波器的截止频率越小,滤波效果越好,测量精度越高。
2.3 ADC设计
C8051F020单片机自带有两路ADC,其中ADC0为12位,最高速度100ksps;ADC1为8位,最高速度500ksps。出于精度考虑,两路AD均选用12位的ADC0(即中间进行分时转换实现)。题目要求频率范围为1MHz-40MHz,最小步进100KHz,可连续扫频输出,且一次扫频时间小于等于2s,因此2s内需要ADC采样390个点,即完成单次ADC采样的时间不能超过5ms,而利用ADC0采样一次仅需10us,中间切换通道大概需要22us,能够满足题目要求。
2.4 被测网络设计
被测网络采用RLC串联谐振电路。
图2 RLC串联谐振电路
中心频率:
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