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[工学]lecture_04场效应晶体管及晶闸管.ppt

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[工学]lecture_04场效应晶体管及晶闸管

2 结型场效应晶体管JFET 5 晶闸管Thyristor 别名:可控硅Silicon Controlled Rectifier 广东海洋大学 信息学院 徐国保 1 场效应管的特点及分类 2 结型场效应晶体管JFET 3 绝缘栅型场效应管 4 场效应管的主要参数 5 晶闸管 lecture_04 场效应晶体管及晶闸管 内容提纲 重点难点 场效应管的工作原理 场效应管的特点 晶闸管的工作原理 作业 :1.14,1.15 cha.1-4 Next: cha.2-1,cha.2-2 1 场效应管的特点及分类 Field effect transistor FET 压控器件:利用输入回路的电场效应来控制输出回路电流。 单极型器件:仅由一种载流子(多子)导电,不易受温度和辐射的影响。 输入电阻很高,噪声很小。输入电阻可达, ,输入端基本不取电流。 场效应管的特点 场效应管的分类: 场效应管FET 结型(JFET) 绝缘栅型(IGFET)(MOS) N 沟 道 P 沟 道 耗尽型 depletion 增强型 enhancement N 沟 道 N 沟 道 P 沟 道 P 沟 道 均为耗尽型 N沟道 P沟道 一 、结构和符号 gate drain source 二、工作原理(以N沟道为例) N G S D N N P P ID UDS=0V时 PN结反偏,UGS=0导电沟道较宽。 N N D ID N G S VGG P P UGS越大耗尽区越宽,沟道越窄,电阻越大。 但当UGS较小时,耗尽区宽度有限,存在导电沟道。DS间相当于线性电阻。 D VGG ID S P P N UGS达到一定值时(夹断电压UP),耗尽区碰到一起,DS间被夹断,这时,即使UDS ? 0V,漏极电流ID=0A。 改变UGS的大小,可以有 效地控制沟道电阻的大 小,若加上UDS则ID将会 受到UGS的控制。 N沟道结型场效应管UP为负值。 VDD UGSUp且UDS0、UGDUP时耗尽区的形状 P P G N S D VGG 越靠近漏端,PN结反压越大 ID UDS较小时,ID随UDS的增大几乎成正比地增大。 G VGG 增大VGG,使 UGD=UGS-UDS=UP时 D 漏端的沟道被夹断,称为予夹断。 再增大UDS,夹断长度会略有增加,但夹断处场强很大,仍能将电子拉过夹断区,形成漏极电流。在从源极到夹断处的沟道上,沟道内电场基本上不随UDS改变而变化。ID基本不随UDS增加而上升,漏极电流趋于饱和IDSS。 VDD ID P P S D VGG ID S P P N 继续增大VGG,则两边耗尽层的接触部分逐渐增大。UGS≤UP时,耗尽层全部合拢,导电沟道完全夹断,ID≈0,称为夹断。 结论: JFET栅极、沟道(与源极相连)之间的PN结是反偏的,因此,IG=0,输入电阻很高。 JFET是电压控制器件,ID受UGS控制。由于每个管子的UP为一定值,预夹断点会随UGS改变而改变。 预夹断前,ID与UDS呈近似线性关系;预夹断后,ID趋于饱和。 三、JFET的特性曲线 output characteristics transfer ~ 四、主要参数 Pinch off voltage 五、结型场效应管的缺点: 1. 栅源极间的电阻虽然可达107以上,但在某些场合仍嫌不够高。 2. 在高温下,PN结的反向电流增大,栅源极间的电阻会显著下降。 3. 栅源极间的PN结加正向电压时,将出现较大的栅极电流。 绝缘栅场效应管可以很好地解决这些问题。 3 绝缘栅型场效应管IGFET、MOS 增强型N沟道示意图 耗尽型N沟道示意图 增强型P沟道示意图 耗尽型P沟道示意图 4 场效应管的主要参数 (1) 开启电压UGS(th)(UT): 当UDS为常数时,形成ID所需的最小|UGS|值,称开启电压。  (2) 夹断电压 UGS(off): 在UDS固定时,使ID为某一微小电流(如1μA、10μA)所需的UGS值。 (3) 低频跨导gm: UDS为定值时,漏极电流ID的变化量ΔID与引起这个变化的栅源电压UGS的变化量ΔUGS的比值,即 (4) 漏源击穿电压U(BR)GS: 管子发生击穿,ID急剧上升时的UDS值;UDSU(BR)GS。 (5) 最大耗散功率PDM: PD=I DUDSPDM。不能超过PDM,否则要烧坏管子。  (6) 最大漏极电流IDM:管子工作时,ID不允许超过这个值。

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