pna-x芯片测试的afr和trl校准对比分析-是德科技大学.pdf

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2018-03-08 发布于天津
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芯片测试的和校准对比分析操作示范指南作者是德科技成都开放实验室芯片测试的与校准对比分析说明非标准输入输出接口的待测件的测试通常需要夹具使用夹具后测试端面和校准端面不在同一个平面上这时如果仅使用校准方法会引入测试误差针对这种情况传统的解决方法是采用校准校准可以将校准端面延伸到测试端面上但校准的精度依赖于客户自己设计的校准件校准件的好坏直接影响测试结果准确性而且在某些场合校准件不易设计的自动夹具移除功能可以将夹具的影响从数学上消除或去嵌以达到更好的测试效果并且无需设计校准件本例使用夹具对一款贴片衰减

PNA-X 芯片测试的AFR 和TRL 校准对比分析操作示范指南作者：是德科技成都开放实验室 PNA-X 芯片测试的AFR 与TRL校准对比分析说明：非标准输入输出接口的待测件的测试通常需要夹具，使用夹具后测试端面和校准端面不在同一个平面上，这时如果仅使用SOLT 校准方法会引入测试误差。针对这种情况，传统的解决方法是采用TRL 校准，TRL 校准可以将校准端面延伸到测试端面上。但TRL 校准的精度依赖于客户自己设计的校准件，校准件的好坏直接影响测试结果准确性，而且在某些场合，TRL 校准件不易设计。