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NBT47013.10-2015宣贯(衍射时差法)
3. NB/T 47013.10 标准条文 8 缺陷评定与质量分级 8.1 不允许危害性表面开口缺陷的存在。 8.2 如检测人员可判断缺陷类型为裂纹、未熔合等危害性缺陷时,评为III 级。 8.3 相邻两缺陷显示(非点状),其在X 轴方向间距小于其中较小的缺陷长度且在Z 轴方向间距小于其中较小的缺陷自身高度时,应作为一条缺陷处理,该缺陷深度、缺陷长度及缺陷自身高度按如下原则确定: a)缺陷深度:以两缺陷深度较小值作为单个缺陷深度。 b)缺陷长度:两缺陷在X 轴投影上的前、后端点间距离。 c)缺陷自身高度:若两缺陷在X 轴投影无重叠,以其中较大的缺陷自身高度作为单个缺陷自身高度;若两缺陷在X 轴投影有重叠,则以两缺陷自身高度之和作为单个缺陷自身高度(间距计入)。 3. NB/T 47013.10 标准条文 8.4 点状显示的质量分级要求如下 8.4.1 点状显示用评定区进行质量分级评定,评定区为一个与焊缝平行的矩形截面,其沿X 轴方向的长度为100mm(原150mm),沿Z 轴方向的高度为工件厚度。 8.4.2 在评定区内或与评定区边界线相切的缺陷均应划入评定区内,按表6 的规定评定焊接接头的质量级别。 3. NB/T 47013.10 标准条文 8.4.3 对于密集型点状显示,按条状显示处理。 8.5 非点状缺陷显示的质量分级按表7 的规定进行。 8.6当各类缺陷评定的质量级别不同时,以质量级别最低的作为焊接接头的质量级别 3. NB/T 47013.10 标准条文 9 检测记录和报告 9.1 按照现场操作的实际情况详细记录检测过程的有关信息和数据。检测记录除符合NB/T47013.1的规定外,还至少应包含以下内容: a)与被检工件有关的内容:名称、编号、规格、材质、坡口型式、焊接方法、热处理状况、检测部位及检测前的表面状态等; b) 检测设备器材:仪器型号及编号、探头型号和编号、扫查装置、试块、耦合剂等; c) 检测工艺参数:检测标准、技术等级、检测操作指导书编号、检测面、检测区域、探头布置图、检测系统设置和核查的数值、扫查方式、温度; d)检测示意图; e) 检测数据和分析:每一数据文件的名称及分析结果(包括缺陷位置与尺寸、质量级别); f) 检测系统总体设置确认的数据;技术等级为C级时,还应包括模拟试块验证的数据和结果。 3. NB/T 47013.10 标准条文 9.2 应依据检测记录出具检测报告,检测报告除符合NB/T47013.1的规定外,还至少应包含以下内容: a) 委托单位; b) 与被检工件有关的内容:承压设备类别,检测对象名称、编号、规格尺寸、材质、坡口型式、焊接方法、热处理状况、检测部位和检测比例、检测时的表面状态、检测时机、温度等; c) 检测设备器材:仪器和探头规格型号、扫查装置、耦合剂、试块(必要时)等; d) 检测工艺参数:检测操作指导书编号、检测面、探头设置、扫查方式; e) 检测结果与结论:数据文件名称、可记录缺陷的位置与尺寸、质量级别、数据文件名、 检测结论; 谢谢! * 3. NB/T 47013.10 标准条文 4.3 TOFD 检测技术等级(质量控制,设备重要程度区别) TOFD 检测技术等级分为A、B、C 三个级别,见表1。 技术等级 检测面 扫查面盲区a 底面盲区b 横向缺陷检测 采用模拟试 块验证工艺 扫查面 表面检测 底面 表面检测 A 单面 ≤1mm ≤1mm ---- ---- 需要 必要时c B 单面 ≤1mm ≤1mm 需要 ---- 需要 必要时c C 双面d ---- ≤1mm 需要 需要e 需要 需要 注1:对于各检测技术等级,为使底面盲区或扫查面盲区高度≤1mm,可选择的检测工艺或方法建议如下: a)当初始扫查面盲区高度h51mm时,宜采用脉冲反射法超声检测; b)当初始底面盲区高度h41mm时,宜采用偏置非平行扫查; 注2:对于检测技术等级B或C级,为检测横向缺陷,可采用TOFD斜向扫查,也可按照NB/T47013.3中承压 设备对接接头B级或C级检测技术等级的要求进行横向缺陷的超声检测; 注3:表面检测方法包括磁粉检测、渗透检测或涡流检测,优先采用磁粉检测。 注4:脉冲反射法超声检测、磁粉检测、渗透检测和涡流检测应按照NB/T47013.3~47013.6规定的要求进 行。 a检测区域内的扫查面盲区,一般应在4.2.3.2规定的对比试块上验证。 b检测区域内的底面盲区。 c底面有可疑相关显示时。 d若由于结构原因,可以在无法进行双面的局部采用B级检测,但应采用模拟试块验证工艺且一般应进行 底面表面检测。(如堆焊层结构的加氢反应器或接管等遮挡) e 采用4.2.3.3
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