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南通友联TOFD仪器简介
南通友联TOFD仪器简介
PXUT-900便携式超声探伤仪(TOFD),是利用超声衍射时差技术工作的全新的超声无损检测设备。它检出率高,对缺陷的定量定位精度高,检测简单快捷,检测效率高。具有智能化操作,“一键TOFD”扫查使初学者能快速掌握,特有触摸屏控制,按键与鼠标可同时使用,飞梭控制可以一梭到底,操作极为简便,是目前最轻巧的“TOFD”探伤仪,含电池仅重2.25 kg。
性能参数
脉冲类型 负方波脉冲(脉冲可调) 脉冲前沿 10ns 脉冲宽度 30~1000ns连续可调 重复频率 100~1000Hz可调节 检波方式 硬件检波 采样频率 100MHz 频带宽度 0.5~5MHz、2~10MHz、4~15MHz、0.5~20MHz(宽带) 波形显示方式 射频波、全波、正半波、负半波 声速范围 300~20000m/s 声程范围 5~200μs 延时范围 0~200μs 触发方式 编码器触发(最大分辨力0.25mm)、时间触发(最大分辩力5ms) 等效输入噪声 40×10V/ 衰减精度 ±1dB/20dB 发射脉冲后盲区 2ns 成像模式 根据仪器的设置和扫查方式显示B扫、D扫、P扫、TOFD成像 记录方法 完全原始数据记录(每周期= 5点) 扫查长度 单次最长200m;每幅2m可以保存200幅。 离线数据分析 恢复和回放扫查记录的A扫波形
缺陷尺寸和轮廓
厚度/幅度数据统计分析 数据报告 直接打印校验表、A扫波形、B扫图像、D扫图像、TOFD图像 运行内存 1 G 可用闪存 2 G 输出 LAN、VGA、USB2.0 显示 6.5“高亮真彩色高分辨率SVGA640×480象素LCD触摸屏 控制 触摸屏点击、前面板键盘、飞梭 兼容外部设备 USB、键盘鼠标,通过USB或LAN连接打印机、PC,SVGA外接显示器投影仪 电源 6600mAH锂离子电池,工作时间6小时,外接19V适配器 尺寸 257(宽)×168(高)×64(厚)mm(含电池) 重量 2.25 kg(含电池)
功能特点
“一键TOFD”扫查,让TOFD探伤更加简易。
特有触摸屏控制,按键与鼠标可同时使用,飞梭控制可以一梭到底,操作极为简便。
最轻巧的“TOFD”探伤仪,含电池仅重2.25 kg
实时帮助提示,超声衍射波探伤,解决传统探伤单次扫查区域的局限性和不直观性
高亮度高分辨率真彩色液晶触摸屏。
USB、LAN、SVGA输出接口。
内置探头位置编码器。
大容量数据存储空间。
具备A扫、B扫、D扫和TOFD成像功能。
实时的A扫波形显示使仪器调试更加快捷精确。
A扫波形和B、D扫图像同步显示,使扫查更直观。
本机浏览扫查记录,并能回放A扫波形。
缺陷尺寸、位置和类型的准确分析。
配置使用方便高效的手动扫查架,便携扫查器代替手工扫查,探伤更快、更精确
仪器的设置:
南通友联TOFD仪器开机自动初始化,进行默认设置(更换探头则需要重新设置)
TOFD扫查:
仪器设置调整好后,将扫查架放到被测工件的扫查起始位置准备扫查。仅需一键就可开始TOFD扫查。如图1。
图1 扫查时的仪器界面
扫查过程中,表示扫查位置的白线随扫查进程的推进将往下移动,当扫满一屏后,白线将在B扫图的最下边不动,B扫图会一次向上移动。如图2。扫查时可以反复回扫,通过此方式可以检查其重复性,如图3。
图2 扫查中的TOFD图像 图3 反复扫查时的TOFD图像
扫查记录分析:
扫查结束后通过对扫查记录的分析可以得到工件被测部位的缺陷情况,包括缺陷的类型、大小、位置等。分析如图4。
图4 TOFD扫查图像分析系统
在分析时只需设置PCS、参考深度等有限几个参数即可进行校准。分析软件提供了完善的分析工具,可以准备方便的对扫查图进行分析和评判。
典型的缺陷图见图5图6。
图5 有未焊透、侧壁未熔合、气孔等缺陷的TOFD扫查图像
图6 有上下表面开口、近表面开口等缺陷的TOFD扫查图像
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