[理学]数字电子技术实验讲义.doc

目 录 实验一 TTL各种门电路功能测试 2 * 实验二 组合逻辑电路分析 6 实验三 3/8译码器 10 实验四 四位二进制全加器 14 实验五 数据选择器实验 16 * 实验六 触发器实验 19 * 实验七 计数器实验 22 * 实验八 D/A转换实验 28 * 实验九 A/D转换实验 31 设计性实验 34 实验一 节日彩灯（设计性实验） 34 实验二 六人智力抢答（设计性实验） 35 附 录 芯片管脚及功能介绍 36 实验一 TTL各种门电路功能测试 一、实验目的： 1、熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。 2、熟悉万用表的使用方法。 二、实验设备及器件 SAC-DS4数字逻辑实验箱 1个 数字万用表 1块 74LS20双四输入与非门 1片 74LS02四二输入或非门 1片 74LS51双2-3输入与或非门 1片 74LS86 四二输入异或门 1片 74LS00四二输入与非门 2片 三、实验内容与步骤 1、与非门逻辑功能测试 用74LS20双四输入与非门进行实验，其引脚图见附录。 按图1-1接线。 图1－1 (2) 按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表，把测试结果填入表1-1中。  表1-1 输 入 输 出 F A B C D 电压（V） 逻辑状态 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 2、或非门逻辑功能测试 用74LS02二输入四或非门进行实验，其引脚图见附录。 按图1-2接线。 图1-2 按表1-2的要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各 相应输出端F的状态，并将测试结果填入表1-2中。 表1-2 输 入 输 出 F A B 电压(V) 逻辑状态 0 0 0 1 1 0 1 1 3、与或非门逻辑功能测试 用74LS51双23输入与或非门进行实验，其引脚图见附录。 按 图1-3接线。 图1-3 按表1-3要求用开关改变输入量A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表观 测各对应输出端F的状态，并把测试结果记入表1-3中。 表1-3 输 入 输 出 F A B C D 电压(V) 逻辑状态 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 4、异或门逻辑功能测试 用74LS86二输入四异或门进行实验，其引脚图见附录。 按图1-4接线。 图1-4 按表1-4要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果填入表1-4中。 表1-4 输 入 输 出 F A B 电压(V) 逻辑状态 0 0 0 1 1 0 1 1 5、利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路” 要写出各种电路的逻辑表达式和真值表，画出逻辑图并在实验仪上加以验证。 四、实验要求 1、将实验结果填入各相应表中。 2、分析各门电路的逻辑功能。 3、回答下面问题 (1) 与非门一个输入端接连续脉冲，其余端是何状态时允许脉冲通过，是何状态时禁止脉冲通过？ (2) 为什么异或门又称可控反相门？ 4、独立完成实验，交出完整的报告。 * 实验二 组合逻辑电路分析 一．实验目的 掌握组合逻辑电路的分析方法 验证半加器、全加器、半减器、全减器、奇偶校验器、原码/反码转换器逻辑功能。 二、实验设备及器件 SAC-DS4数字逻辑实验箱 1个 万用表