G657光纤熔接和熔接损耗测试.docx

◆ 第六届中国通信光电线缆产业峰会技术篇G．657光纤熔接和熔接损耗测试张立岩1，2胡勇1严长峰1，2庹琦翔1，2齐尚波1刘璐1，2李婧1，21．长飞光纤光缆有限公司2．光纤光缆制备技术国家重点实验室摘要：随着FTTx技术的快速发展，弯曲性能优化的G657光纤光缆己大量应用于接入网建设。施工单位在进 行G-657光纤熔接的时候，由于熔接机版本过低、操作不当或熔接参数选择不当，可能会出现熔接损耗 偏大的现象，某些熔接机的单模熔接程序甚至不能辨认G．657．A2光纤。当采用光时域反射仪(OTDR) 设备测试熔接损耗时，由于G657和G．652光纤模场直径(MFD)的差异，OTDR曲线会出现“大正大 负”现象，单向测试无法得到正确的测试结果。本文针对G．657光纤熔接和熔接损耗测试，分别对G657 光纤识别、“黑线”和“晕环”现象、熔接操作、熔接参数调整、OTDR测试等方面进行了解释和汇总。关键词：Gt657．A2；熔接；黑线；晕环：OTDR；大正大负0前言随着FTTx技术的快速发展，弯曲性能优化的G．657光纤光缆已大量应用于接入网建设，G．657 光纤与主干网G．652光纤的熔接问题受到光纤通信运营商的很大关注。根据ITU．T标准，G．657 的A大类光纤与G．652．D光纤相兼容，但是施工单位在进行G．657光纤熔接的时候，由于熔接机 版本过低、操作不当或熔接参数选择不当，可能会出现某些熔接机的单模熔接程序不能辨认 G．657．A2光纤，熔接损耗偏大等问题。另外，从熔接机上看到的G．657光纤的图像也和传统的 G．652光纤有差异，给施工单位带来困惑。光时域反射仪OTDR可以测试光纤链路上多个熔接点的熔接损耗，因而是光纤光缆施工及验 收过程中经常使用的一种测试仪表。传统测试干线链路衰减时一般只测试一个方向，即从A端到 B端，然而当使用OTDR测试G．657和G．652光纤熔接点时如果只测试一个方向，则会得到超出 正常范围的偏大的熔接损耗或者增益，即OTDR曲线会出现“大正大负”现象，这往往会给施工单 位和验收单位带来困扰。其实“大正大负”现象是由于G．657和G．652光纤的MFD差异导致的，是 由OTDR设备工作原理决定的，因而采用OTDR单向测试无法得到正确的测试结果。为了解决上述问题，长飞公司率先研究了G657光纤熔接以及熔接损耗测试的各环节，并结 合客户实际施工遇到的问题进行了深入的调研和验证。为了更好的研究不同型号熔接机对G657 光纤的熔接情况，专门针对市场上常用的9款熔接机进行了一系列光纤熔接对比实验。熔接对象为长飞公司开发的易贝@+(EasyBand@Plus)G．657．A2抗弯曲单模光纤和G．652．D光纤。熔接设备 分别是：1、爱立信FSU．975，2、藤仓50S，60S和80S，3、古河S178，4、住友T-39和Type-81C， 5、迪威普720B，6、吉隆300T。技术篇第六届中国通信光电线缆产业峰会◆经过大量而深入的实验验证，分别对G．657光纤识别，“黑线”和“晕环”现象，熔接操作，熔 接参数调整，OTDR测试等这些问题进行了解释和汇总，分各章分别进行叙述。1不同型号熔接机对G．657．A2光纤的识别一般光纤经过剥除涂覆层，清洁以及切割后放入熔接机中，熔接机会在熔接前通过检测光纤 的芯径、MFD等自动对光纤进行鉴别，如果在检查过程中发现光纤的芯径、MFD等不符合所使 用程序的默认值，熔接机将会提示或者拒绝继续熔接。不同型号熔接机由于软件系统的不同，其自带的单模程序对G．657．A2的辨认情况也有差异。 根据我们试验所选用的熔接机，在进行G．657．A2光纤熔接时，对于G．657光纤的识别，主要分为 “识别”、“不识别”、和“可能识别”三种情况，如表1所示：表1九种不同型号熔接机对G．657．A2光纤的识别情况及解决办法 单模程序对熔接机型号解决办法G．657．A2光纤识别爱立信975藤仓50S，60S和80S如果万一遇到不识别的情况，可升级熔接机 软件版本，或者可将对准方式由“自动”住友T-81C识别(“纤芯”或“包层”)改为“手动”，再吉隆300T直接按“熔接”键完成熔接迪威普720B可更改熔接程序参数设置： sM程序编辑检查L(或R)模场半径古河$178不识别岬(1310nm)由4．75改为4．18左右并在放光纤时把Ct657光纤置于修改的一侧 (L或R)如果遇到单模程序对G657．A2光纤不识别 的情况，由于该型号熔接机自动化程度很住友T-39可能识别高，无法更改熔接参数，建议通过更新熔接机软件版本来解决因而，用户如果使用以上9款熔接机遇到熔接机无法识别G．657光纤的问题，可以根据表1 提供的解决方法来升级或者更改熔接机设置，从而顺利解决该问题。2“黑线和“晕环’’现象2．1“黑线和“