粒度粒形手册美国麦克仪器.pdf

颗粒粒度 由于颗粒粒度表征技术种类繁多，选择一种适合的测试 技术便成为获取有效粒度数据的关键。但是，任何一种表征 2500 µm 技术都不能适用于所有的材料和应用。因此，针对多样化的 表征需求，美国麦克仪器Particular System，推出了六款 颗粒粒度分析仪，分别利用六种不同的测试技术，最大程度 地满足各种样品的测试需求。 2000 µm 动态光散射法和 Zeta电位 1500µm 动态光散射法（DLS），也称为光子相关光谱法（PCS）， 是目前公认的亚微米颗粒和大分子物质粒度分布测试技 术。DLS通过测定由颗粒布朗运动产生的扩散速度和散射 1000µm 光强波动速率，来确定颗粒粒度分布。使用DLS方法，几分 钟内即可获取准确的在统计学上具有代表性的结果。 Zeta电位的测试是基于电泳光散射（ELS）技术，通过 测试颗粒悬浮液和大分子溶液中颗粒的电泳迁移率来获取 750µm 其Zeta电位值。 500 µm 空气渗透法 m m m µ µ µ 6 空气渗透法通过测量空气穿过颗粒床层的压降来计算 3. 5 6 250 µm 颗粒粒径。改变样品的高度，床层的孔隙率将发生变化，使 2 7 2 用Carman方程计算出颗粒的平均表面积和平均粒径。 - 1 - - m m 100µm 电阻法 m µ µ n 2 4. 电阻法，也称为库尔特法，是对单个颗粒的分析技术。 1. 0. 0 测试所需样品量极少，是目前测试精度最高的粒度表征技 0 / / 10µm I 术。测试时，需要将待测样品均匀的分散在电解质溶液中， / I