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2.變異（Variation） 多次量測結果之變異程度，常用量測結果之 標準差（ ）表示。 （1）量測過程受機遇原因（Assignable cause） 影響時， （2）量測過程受機遇原因與特殊原因 （Special cause）影響時 3.精密度（precision） 多次重複測定同一品質特徵值，各量測值之 間彼此相符合之程度，表示量測過程中隨機 誤差的大小，常用標準差表示。 4.準確度（Accuration） 多次量測之平均值與標準值相符合程度，表 示量測過程中系統的大小，常用偏差表示。 故可知高品質之數據要求偏差小，變異小，即 高精密度與高準確度之量測數據。 三、量測系統之變異源 量測系統之變異主要由量具與操作者所引起，但為 評估量具與操作者之變異大小 ，則需選用一些另件 讓操作者使用量具執行量測，因此另件間的變異對 量測結果亦有影響性。 （1）再現性（Repeatability，EV）…量具誤差 （2）再生性（Reproduciability，AV）…操作者誤差 （3）另件間變異（Part Variance，PV）..另件間誤差 例如：指定k人，選則n個另件，每位操作者重複量測 m次，分析上述（1），（2），（3）之變異 性，如下說明： （一）再現性 由一個或多個操作者，使用同一量具，多次重 複量測同一另件之同一品質特性，所獲得量測 值之變異。變異愈小表示量具具有良好之重複 性。再現性探討之步驟如下： 1.評估量測過程是否穩定 即量測過程之變動係由機遇原因所造成，可 使用R管制圖。選擇多個另件，每個另件重 複量測相同次數，觀察R圖是否在管制狀態 下（in control），若在非管制狀態下（out of control），可能 原因係量具過度變異，分辨 力不足或量具使用不當所造成。 2.計算量具之再現性 確定量測系統已達穩定狀態，則始可計算量 具之再現性。 ：重複量測另件全距之平均值。 ：不同於SPC使用之 ，SPC全距係使用不 同另件量測結果之全距 ( )，而量測系統