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奥氏体不锈钢锻件超声检测作业指导书
奥氏体不锈钢锻件超声检测
1、适用范围
适用于奥氏体、奥氏体不锈钢锻件脉冲反射式手动超声检测。机械扫查方式,比如液浸法须在买卖双方同意的条件下方可适用。
适用根据锻件形状和制造方法分为四类,其中1,2,3类形状比较简单,4类较复杂。
不适用: 滚轧棒,闭合锻件,涡轮转轴和发电机锻件。
奥氏体不锈钢锻件的检测在本标准的第四部分。
参考(略)
定义(略)
协商事项
以下事项由合同双方在签订合同时协商达成一致。
扫查比率以及扫查方式是栅格扫查还是100%全覆盖扫查(第12条)。
近表面双晶探头的选用(第7.2.6条)
质量定级以及区域(第14条)
除第7,12条提到以外,任何特殊扫查覆盖率,仪器或者耦合剂使用时
扫查方式不是手动的(第1条)
采用浸涂技术(第15条)
灵敏度确定技术(第11条)
检测是否要在买方或其代表在场时进行
是否应递交工艺卡予以买方承认(第5条)。
是否要做横波探头检测(11.3条)
复杂锻件(4类)的检测保留问题(12.2条)
5.工艺卡
5.1 概要
超声检测应遵照工艺卡执行。在合同双方技术协议有规定的情况之下,工艺卡应在检测前递交给买方予以承认。
5.2 形式
工艺卡应具有以下形式:
产品规格 或者
详细的实施工艺流程,或者
EN10228此部分
5.3 内容
工艺卡至少具有以下内容:
需要检测的锻件的规格描述
相关文件
检测人员的资格证明
检测时机
检测区域质量级别
表面扫查准备
耦合剂
检测仪器描述
校准和设置
扫查方式
检测顺序以及描述
缺陷记录
缺陷描述
合格级别
检测报告
6.人员资格
检测人员须具有EN473资格证明
7.仪器和附件
7.1 探伤仪
符合prEN12668-1规定的A型扫描仪
7.2 探头
7.2.1一般规定
普通直探头和横波探头必须符合PrEN12668-2规定。要求得到更加详细的检测信息时也可用辅助探头,但辅助用的探头不能用于缺陷的初检。辅助探头须符合prEN12668-2规定。
7.2.2 造型
造型应符合EB583-2要求
7.2.3 公称频率
公称频率在0.5MHZ~6MHZ
7.2.4直探头
有效晶片直径10~40mm
7.2.5 横波探头
横波声束角度35°~70°,晶片面积20mm2~625mm2
7.2.6 双晶探头
检测近表面缺陷时应使用双晶探头(第四条)
7.3 标准试块
应符合prEN12223规定
7.4 对比试块
要求用距离-波幅曲线(DAC)定灵敏度和当量法定缺陷当量尺寸时,应制作对比试块。对比试块表面状态应和检测部位表面一致。否则,对比试块必须在检测深度内有至少三个反射体。
对比试块的形式取决于实际探伤,应符合以下条件:
a) 超过待检部位长度
b) 和待检部位具有相同的材质以及热处理状态
c) 和待检部位具有相似声特性
除了用于验证DGS图的精确性之外,对比试块不能用于距离-增益-大小(DGS)技术。
注:表5,6中反射体的不同尺寸可用于检测灵敏度的相应调整。
7.5 耦合剂
应便于操作,在校准,灵敏度设置,扫查,缺陷定量时应使用同一种耦合剂。
耦合剂存在影响加工、检查或者部件完整时,应在检测完之后予以清除。
注:合适的耦合剂如:水(含或不含腐蚀性抑制剂或软化剂),油脂,甘油和化学浆糊。
8. 校验
探伤系统(探伤仪和探头)的校验应符合prEN12668-3 的规定。
9. 检测时机
超声检测应在最终热处理后和机加工前进行。
注:对于需钻孔的圆柱和矩形锻件,推荐在钻孔前进行超声检测。
10.表面状态
10.1 概述
扫查表面应无漆层,附着层以及影响耦合效果的干耦合剂,表面不规则或其他物质,这些会阻碍探头的自由移动或者造成误判。
10.2 表面准备等级
在机加工状态下,质量等级1,2的表面粗糙度Ra≤12.5μm,
等级3的表面粗糙度Ra≤6.3μm,
10.3 毛坯表面状态
锻件以毛坯形式供货时,表面状态应达到指定的质量等级。铸件表面难以进行全面的检测。可进行喷丸,喷砂或者表面打磨处理,确保超声耦合。
注:质量级别只为1级。
11 灵敏度
11.1 概述
灵敏度应足够保证检测出记录和评级指定的最小缺陷(表4,有需要时表5,6)。如果由于晶粒粗大,灵敏度达不到要求时,如何判定锻件合格,应买卖双方达成一致。
11.2 普通直探头
应采用以下一种方法来确定探头扫查灵敏度:
a) 平底孔距离波幅曲线(DAC)
b) DGS技术
应符合prEN583-2规定.
11.3 横波探头(4.j条)
应采用以下一种方法来确定探头扫查灵敏度:
a) Φ3mm横孔距离波幅曲线(DAC)
b) DGS技术
应符合prEN583-2规定.
横波探头DAC和DGS技术无对比性。
11.4 重复检查
重复检查时应采用与最初一致的确定灵敏度的方式(DAC或DGS)
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