浮法玻璃缺陷产生的原因.ppt

　　浮法玻璃缺陷产生的原因及分析法 　　　　缺陷检测设备： 显微镜、INDEX　OIL、摄像机、紫外光光源、侧面光、点光源、图像程序库 缺陷类型： ALUMINA氧化铝、2、SPINEL尖晶石，3、二级刚玉、4、霞石/三斜霞石，5、绿刚玉，6、多孔刚玉，7、明矾石，8、Beta 氧化铝，9、氧化锆，10、树枝状氧化锆，11、锆莫来石，12、团状氧化锆，13、cpyto-结晶状氧化锆，14、硅石，15、硅石成分，16、鳞石英碎片，17、鳞石英（雪花状），18、石英，19、方石英，20、铬铁矿，21，金属硅，22、铸铁，23、铸锌，24、蓝色刚玉，25、氧化锌，26、铂金，27、其它金属杂质。28、铁屑，29、锡槽（产生缺陷），30冷端顶部锡滴，31，热端锡滴，32冷玻璃“牵引线”， 33、冷端顶部滴锡，34、高岭土棉/陶瓷纤维，35、锡pickup、 36、沾锡、 37、磷石英表面、38、节瘤，39、氧化锆形，40、氧化铝形 ，41、波纹，42、硫酸钠，43、滴落的水泡，44、焊渣，45、气泡 。 取样方式：安全第一 ！ 对于玻璃取样堆垛要小心。多次的取样大小不一，也不是正方形的。玻璃样品边部有一些小毛刺。在捆扎过程中，为避免玻璃碎屑割伤手指或划伤身体。 仔细地捆扎样品，最好一次只捆一个样片包。 固定、捆扎之前先把玻璃样片堆为最好的形状，扔掉明显破碎的玻璃样片。 在桌子周围慢慢地移动。快速移动会发生事故。 如果你掉落一片玻璃，就让之自由落地。按照惯性反应，这样说可能比实际做要容易。 当某人传给你一片玻璃时要当心。玻璃片可能会划伤你。 如果你有许多片样品，堆垛高度可能达8“-10”，最好分成2垛而不是1垛。为便于以后识别，可标明“二分之一垛”和“二分之二垛”。 先把不合格的缺陷片扔到检测室后面的垃圾桶里再倒掉它们。 不要扔掉大片玻璃样品。打碎成几片小块或让切裁工为你处理。 　　　GENERAL（综述） 捆扎样品：检测样品之后，你需要做一些必要的工作。通常你需要将样品堆垛并用 胶带呈“十字型”捆扎。然后在收集的缺陷检测样品垛上写明某月某日某班次及第几号生产线，而且要标明结石或气泡。再把样品垛放在检测室的其中一个塑料箱中。这样可临时作为一个样品储存库以备追溯几天前的检测样品。分析完已捆扎好缺陷样品后按箱号、日期和班次放回原处。可以扔掉7天之前的箱内样品。以存储保护特征的数据记录。 程序：仅检测前一个班次的缺陷样片。这样不会产生记录混淆； 计算机上所有的条目被设定为你看到的缺陷中间班次时间。如：12：00-8：00　班　时间是4：00；8：00-4：00　班　时间是12：00；4：00-12：00　班　时间是20：00 ；记住你是在12：00-8：00的班上看上一个班即：4：00-12：00的缺陷检测样品。做法是：以前一天为日期把数据输入带有鼠标和型号的强光数据库中；设想在你的当班中没有看到任何缺陷 ：按通常做法填写标题；在内容栏内写“收集的缺陷检测样品上没有任何缺陷（在某班看到的）”。如在8：00-4：00的班上收集的缺陷检测样品上没有任何缺陷 。 在内容栏上注明你的姓名，以便如有问题可依据记录询问当班检测人员。 如你检测有串状结石或大面积缺陷，不要输入计算机的分析。填写缺陷分析单并把分析单夹到主任办公室的剪贴板上。计算机只是为了保存通常情况的缺陷检测数据并月底汇总。 　　　部分设备介绍： 紫外线光源ULTRAVIOLET　LIGHT：起初此光源看起来像一个发式吹风机。它是用来检测玻璃板底部表面或检测氧化锆的存在。 　为检测样品的底部表面，检测室里要关闭所有的灯只打开紫外线光源。把玻璃样品放在此光源下方。样品底面边部看上去阴暗是因为紫外线光源使浮在锡上的玻璃表面发出荧光。而上表面很清晰。一定要标注此表面，以便你不会再次混淆。 　对于氧化锆节瘤，如果它们不是很大，他们也会发荧光。我主张看到的节瘤越小越好。 Index oil ：这种油要求很纯净。在沿墙周围你可看到straie 油罐里这种油。显微镜旁边有一个小油壶及滴油眼。此油很好是因为它会使玻璃缺陷如一个划伤或碎屑或裂痕消失。当你不能判断玻璃表面上或玻璃缺陷周围某些玻璃缺陷是个污点还是瑕疵时用此油判断很方便。在显微镜发现缺陷区域，在缺陷处滴上此油看它是否会消失。如果消失，则你看到的是玻璃表面缺陷。当你检测玻璃缺陷，尤其是气泡时用此油可削弱强光。虽然这样做也有一些坏处――它会弄脏堆垛的玻璃样品。为安全起见，如果此油沾到你的手上不要擦到你的脸上。赶快洗手 。 　　　　　缺陷分析 尖晶石：此缺陷看上去象粉红色或在熔窑前部小炉里未与铬反应。用语言很难描述，但我看到两点：如果它是粉红色固体，玻璃液应是平滑而且任何部位无色，不透明。但它很象一块软心豆粒糖，我拉长这