晶体光学4正交偏光系统及实验幻灯片.ppt

二.消光角及其测定方法 (一). 消光角的表示方法 消光角一般以结晶轴与光率体椭圆半径之间的夹角表示. 对单斜晶系而言,包含Ng,Np轴和a,c结晶轴的光轴面大多与(010)面平行,因此通常可以在(010)面上测定光率体主轴与结晶轴之间的夹角. 例如,单斜辉石或普通角闪石即在(010)上测定其消光角(c∧Ng). (二). 单斜辉石和角闪石消光角的测定方法 1. 选择合适的定向切面 ※ 与光轴面平行的(010)面的特征: 有一组解理 (代表c轴方向);多色性最明显;干涉色最高;锥光下具闪图. 2. 将矿片置于视域中心, 旋转载物台至消光位. 3. 测定光率体椭圆半径名称, 即确定Ng的方向. 4. 测定解理缝和Ng的夹角,即c∧Ng.(见图示). Ng∥纵丝（α1） 解理缝∥纵丝 （α2） 消光位 a 45° b1 c1 d c2 定轴名 45° b2 单斜辉石或角闪石消光角的测定步骤示意图 三. 延性符号及其测定 延性符号含义: 指一向延长的针柱状矿物的延长方向与其光率体椭圆长短半径的关系. 延性符号描述: 如果矿物的延长方向和长半径平行或两者交角小于450, 则称正延性; 如果矿物的延长方向和短半径平行或两者交角小于450, 则称负延性. 延性符号测定: 对于斜消光的矿物, 只要测出消光角的大小,即知其延性符号.对于平行消光的矿物, 延性符号的测定方法见下页图. 注意: 有时延性正负不分.例如矿物的延长方向平行Nm轴; 矿物的延长方向与长短半径的交角为450. A 消光位 B 正延性 C 负延性 干涉色 升高 干涉色 降低 晶体延性符号测定步骤示意图 四. 双晶的观察 矿物的双晶指同一晶体由两个或多个单体连生在一起. (一). 双晶的表现形式 不同单体的光性方位不同,因此在正交偏光镜间表现为相邻两单体不同时消光, 呈现一明一暗的现象. 双晶逢: 双晶两单体的结合面称为双晶结合面,双晶结合面与薄片平面的交线称双晶逢,当双晶结合面与薄片平面法线一致时,双晶逢最细最清楚. 在00或450位置: 当双晶结合面与薄片平面法线一致时, 不显双晶. 四. 双晶的观察 (二). 双晶的种类 1. 简单双晶: 仅由两个双晶单体组成. 如正长石的卡式双 晶, 辉石的简单双晶等 2. 复式双晶: 由两个以上的双晶单体组成. (3)聚片双晶: 双晶结合面彼此平行, 在正交偏光镜间呈聚 片状. 奇数与偶数两组双晶单体轮换消光.例 如,斜长石的钠长石双晶. (4)联合双晶: 双晶结合面彼此不平行, 按双晶单体的数目 不同,可分为三连晶/四连晶/六连晶. (5)特殊双晶: 微斜长石的格子双晶. P P Ne No Ne No Ne P P Ne No No No Ne P P Ne No No No Ne Ne A B C P P P P P P No=深蓝色，Ne=浅紫色（多色性公式）；No＞Ne（吸收性公式） * 第三章. 正交偏光系统下晶体的光学性质 1.正交偏光系统的构成及光学特点 2.正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位 3.正交偏光镜间矿片的干涉现象及干涉色 4.补色法则和补色器 5.正交偏光间主要光学性质的观测和测定 一.正交偏光系统的构成及光学特点 P P 下偏光镜 A A 上偏光镜 正交偏光系统光路图 构成： 同时使用上、下两个偏光镜且其振动方向互相垂直。 系统的光学特点： 不放任何矿片时，通过下偏光镜的光波其振动方向与上偏光镜的振动方向互相垂直，光波不能通过，视域黑暗。 二.正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位 消光现象 矿片在正交偏光镜间呈现黑暗的现象. (一).全消光 旋转物台一周, 均质体或非均质体垂直光轴切片的消光现象不改变（永久消光). A A 上偏光镜 P P 下偏光镜 晶体切片 (二). 四次消光 二.正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位 旋转物台一周, 非均质体晶体非垂直光轴切片的光率体椭圆半径有四次与下偏光镜平行的机会, 故出现四次消光现象. 消光位:非均质体非垂直光轴切片在正交偏光镜间处于消光现象时的位置. 注意:矿片处于消光位时的意义 P P 下偏光镜 晶体切片 A A 上偏光镜 三. 正交偏光镜间矿片的干涉现象 非均质体晶体非垂直光轴的矿片, 其光率体椭圆半径与上\下偏光镜振动方向斜交时(即矿片不在消光位时), 透过晶体分解的两束光波将发生干涉作用. (1)两束光波的频率相等. (2)两束光波具有固定的光程差. (3)两束光波在同一平面内振动. 1. 光波