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晶体光学课程总结 第一章 晶体光学基础 光——横波 ,振动特点 可见光、自然光、偏振光 2. 光在晶体中传播的特点 均质体：各向同性 非均质体：各向异性- 双折射（率）、光轴、一轴晶、二轴晶 3. 光率体——一个假想的立体模型 基本概念 光率体、 光学主轴(主折射率、最大双折射率)、光轴、主轴面、光轴面 、圆切面 2) 主要类型：均质体；一轴晶；二轴晶 : (1)形态 (2)主要切面类型、特点、应用 一轴晶: 3种: 平行C, 垂直C, 斜交C; 二轴晶: 5种: 垂直Bxa ,垂直OA , 平行AP , 垂直Bxo , 斜交 (3) 光性符号: 正光性、 负光性 4. 光性方位——（结晶轴—主轴关系） 中级晶族 低级晶族 斜方晶系 单斜晶系 三斜晶系 第二章偏光显微镜 1. 物镜中心的校正 2. 上下偏光是否正交的检查 3. 单偏光系统、正交偏光系统、和锥光系统的 构成 第三章 单偏光镜下晶体光学性质 1. 形态、解理 切面的组合; 解理的等级、组数、夹角 2. 颜色、多色性、吸收性 选择吸收: 方向性-色调浓度 3. 突起等级-六个等级 判别标志: 边缘、贝克线、糙面 4. 闪突起-方向性变化 5. 主要光学性质的测定与观察（方法） （1）. 解理夹角的测定(附后) 要点: 切面的选择 （2）. 突起等级的观察 要点:边缘、贝克线、糙面 附解理夹角的测定方法 切片方向的选择 选择同时垂直两组解理面的切片. 特征是两组解理缝最细最清楚, 当解理缝平行目镜十字丝时, 微微升降镜筒, 两组解理缝不左右移动. A C B D E H F G K =60 ＞60 ＜60 不同方向解理夹角变化示意图 2. 解理夹角的测定步骤 （1）选择颗粒,置于视域心. （2）转动物台使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝 (图A),读取此时载物台刻度盘上的度数a. （3）再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字 丝纵丝，读取此时载物台刻度盘上的度数b (图B), a与b之差即为所测解理夹角. (四).解理夹角的测定 图A 图B 第四章 正交偏光镜下晶体光学性质 消光(现象:黑暗) 永久消光(圆切面) 、四次消光(其余切面) 、消光位、消光类型 、消光角 2. 干涉(现象:明亮) 干涉色、干涉色级序 、干涉色色序 补色法则: 45o位两矿片重叠、消色 3. 主要光学性质的测定与观察 1. 光率体椭圆半径名称(轴名)的测定(附后) 要点: 消光位-- 45o位—R(增减) 2. 干涉色级序的测定 要点: 消色位 3. 最大双折射率的测定 要点: 最高干涉色 4. 消光类型的观察 要点: 光性方位 5. 消光角及延性符号的测定（重点） 要点: C?Ng；Np′ ? （010） 消光位 加入试板干涉色升高 同名平行 P 转物台45° 加入试板干涉色降低 异名平行 P P P P P A P P A 光 率 体 椭 圆 半 径 名 称 测 定 45° 90° (1) (2) (3) 用石英楔测定干涉色级序示意图 Ng∥纵丝（α1） 解理缝∥纵丝 （α2） 消光位 a 45° b1 c1 d c2 定轴名 45° b2 单斜辉石或角闪石消光角的测定步骤示意图 A 消光位 B 正延性 C 负延性 干涉色 升高 干涉色 降低 晶体延性符号测定步骤示意图 第五章锥光镜下晶体光学性质 基本概念 干涉图、闪图、光轴角(2V)、光性符号 2. 一轴晶干涉图 1) 垂直C轴: 黑十字+色环(转物台不变化) 应用: 定切面(No), 测光性 2) 平行C轴: 模糊黑十字(转物台对称干涉色) 应用: No,Ne; 测光性 3) 小斜交C轴: 黑十字+色环(不完整) 应用