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尺寸叠加分析阐述了制造业装配过程对尺寸链和公差分析知识-Omnex
二天课程 课程根据了GDT和正负公差标准ASME Y14.5M-1994和ISO1101的要求,阐述了制造业装配过程对尺寸链和公差分析知识。介绍了正、负几何公差标注检验和分析以及多基准结构,包括:尺寸环分析、数据表格、实效条件、结果条件、内边界、外边界、最小间隙、最大壁厚、最大干涉、最大和最小总体尺寸、紧固/浮动螺纹装配、投射公差带、公差叠加分析、统计公差等。 培训特色 结合奥曼克公司大量案例和客户现场问题解释在装配设计过程如何进行尺寸链和公差分析。 参加人员:
设计工程师,质量和检验人员,相关工程和技术人员 培训教材:
每位参加人员将获得一套培训手册,小组练习及案例精选。 课 程 内 容 GDT和尺寸链和公差分析基础
应用场合
尺寸要素
零件极限条件
GDT边界计算: MMC, LMC和RFS实体原则
使用正负公差法进行公差分析
尺寸环分析
数值分析表
最大和最小间隙
尺寸要素垂直和水平环分析
正负公差法装配应用
多重尺寸环
正负数值
间隙和干涉
浮动螺纹紧固装配分析
结果条件
实效条件
内、外边界
中值边界
固定螺纹紧固装配分析
总体最大、最小装配尺寸
装配最大、最小间隙计算
投射公差
导轨装配
螺纹要素
综合几何控制
理论和物理极限条件
装配最大壁厚和最小间隙
单零件分析
两个单位置控制
基准框和几何公差累积
MMC基准要素
轮廓度
平面度
MMC轮廓
基准平面和基准要素
独立和累积公差
复合公差
旋转体装配分析
螺纹孔投射公差
复杂装配简化
确定装配要求
半径间隙计算
干涉计算
三角几何和公差叠加分析
建立基准
测量和装配方位考虑
垂直叠加和水平叠加
统计公差
高斯频率曲线
标准方差
正负三西格玛
统计公差计算和应用
统计公差正负公差法在装配应用
统计公差逻辑
统计公差装配导入
包含案例分析和练习
现场辅导:问题解答.
学员背景要求:
具备基本的机械图纸阅读的基础并在实际工作中有基本的机械图纸应用经验,基本的GDT知识(ASME Y14.5M-1994),需要计算器。
培训目标:
学会计算装配最小和最大壁厚
应用正负公差法建立尺寸环分析和公差叠加分析。
使用几何公差、实效条件、结果条件和正负尺寸建立数值图
学会紧固和浮动螺纹装配公差叠加计算
采用多基准计算装配的最小和最大间隙
学会三角几何和比例法计算倾斜公差叠加
培训方法:
小组练习
通过小组练习来提高对培训内容的了解,掌握尺寸链和公差分析的具体要求和应用。
培训评估:
培训评估考虑出勤率及课堂讨论的参与积极性,并包括以下方面:
课堂上积极有意义的提问。
知识的探讨和分享
积极参与小组练习
评分练习
通过评分练习来了解培训的实际效果,形式为练习和测验。
最终评估
通过最终评估了解培训的整体效果,并策划改进方案
奥曼克公司提供的GDT课程系列:
机械图纸理解 (Blue Print Reading): 1天
几何尺寸和公差理解和实施 (GDT Understanding Implementation): 3天
尺寸链计算和公差叠加 (Tolerance Stack-up Analysis): 2天 (要求有GDT基础)
GDT检具设计 (GDT Gage Design): 2天 (要求有GDT基础)
为什么需要培训GDT以及相关课程(包括检具设计和尺寸链计算)?
目前公差标注存在欧美两大体系,正负公差标注和GDT公差标注。a. 中国和欧洲图纸倾向正负公差标注,即采用大量的正负公差来标注尺寸和位置。b. 北美图纸大量采用GDT形位公差标注,尤其是位置度和轮廓度,例如:
奥曼克GDT系列课程培训将给以下问题提供解答:
14个形位公差的理解(尤其是位置度和轮廓度)?
独立组合位置度和复合位置度的区别?
实体原则(MMC/LMC)对位置度和轮廓度的影响?
实体原则应用在基准上对形位公差的影响?
如何实现以上位置度和轮廓度的测量(传统测量仪器和三坐标)?
如何设计功能性检具检测以上位置度和轮廓度?
实体原则(MMC/LMC)对功能性检具的影响,加MMC/LMC和不加有何区别?
正负公差在计算尺寸链时如何考虑?
14个形位公差在计算尺寸链时如何考虑?
以上位置度和轮廓度在计算尺寸链的如何考虑?
实体原则(MMC/LMC)对尺寸链计算的影响,加MMC/LMC和不加有何区别?
实体原则(MMC/LMC)用于基准时对尺寸链计算的影响?
如何考虑正确的基准(包括设计基准,装配基准,加工基准和检验基准)?
如何合理建立坐标实现位置度和轮廓度的检测?
如何理解理论尺寸、基准和位置度和轮廓度之间的关系?
14个形位公差相互关系和制约以及尺寸正负公差和形位公差之间的关系?
奥曼克GDT系列培训服务过的知名客户:(部分)
奥曼克(上海)咨询有限公司
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