纳米材料表征技术_PPT课件.ppt

纳米材料表征技术-TEM XRD表征技术简介;提纲;纳米材料常用表征方法简介;元素成分分析 XRD，X射线衍射 EDX，能量色散X射线光谱 XPS， X射线光电子能谱 FTIR，傅里叶变换红外光谱 ;晶体结构分析 XRD，X射线衍射 TEM，透射电子显微镜 ;TEM在纳米技术中的应用;TEM的成像原理; 测试结果分析;透射电镜中的电子衍射基本公式为： R为透射斑到衍射斑的距离（或衍射环半径），d为晶面间距，λ为电子波长，L为有效相机长度。 fo 为物镜的焦距， Mi中间镜放大倍数， Mp投影镜的放大倍数。;Au多晶电子衍射;XRD在纳米技术中的应用;（1） 高稳定度X射线源：提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。 （2） 样品及样品位置取向的调整机构系统：样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。 （3） 射线检测器：检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 （4） 衍射图的处理分析系统：现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。 ; X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。由于大量粒子散射光的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。 根据特征峰的位置鉴定样品的物相，并可以鉴定物质晶相的尺寸和大小（谢乐公式，半高宽和位置）。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，可获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构形态等信息。 ;结构分析：应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d。纳米晶粒的大小可用Scherrer公式计算：D = K?/B1/2cos?， K为Scherrer常数，，B1/2为衍射峰的半高宽，? 为布拉格衍射角。 元素分析：应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。;XRD分析举例;Thank you for your attention