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* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 信号,总之开机当机(Hang up)的现象复杂多变,各有不同,我们应根据不同现象灵活运用,注意量测各关键点如NB,SB的关键电压及关键信号,如INTEL芯片上的HL_COMP等等,特别的是BIOS的不良也会造成开机当机;32.768时好时坏也是如此;NB,SB某些点接触不好,时好时坏,NB,SB过热而当机等等,开机当机还应考虑CPU散热不良而当机的因素. 开机当机故障的量测点如下： (1).量测TAFI_INT信号的电压值，为：3.3V； (2).量测FAN_THERMA信号的电压值，为：3.3V； (3).量测FAN_THERMB信号的电压值，为：3.3V； (4).量测SER_IRQ信号的电压值，为：3.3V； (5).量测LPC_DRQ0信号的电压值，为：3.3V； (6).量测PM_SMI_ICH信号的电压值，为：3.3V； (7).量测PCI_REQ(0-4)信号的电压值，为：5V； (8).量测PCI_IRQ(A-H)信号的电压值，为：3.3V,5V； (9).量测CPU与南桥之间的controlsignal信号,其电压为:3.3V. (10).量测HL_COMP信号是否正常； (11).量测32.768KHz频率是否正常； (12).量测14.318M频率是否正常； (13).量测分频器各频率是否正常； (14).量测BIOS A、D信号及读写信号是否正常； 7.Windows当机：此类故障的诊断方法如下： Windows当机,引起的原因很多,有些M/B的测试程序是将功能测试放在Windows里面进行检测,当检测到某个功能不良就会当机,我们可当作功能故障来诊斷,Windows当机一般NB,SB出问题较多,Windows当机的同时伴有花屏或黑屏,一般跟NB关系较大,带外接AGP显卡,要量AGP SOCKET到NB的信号,AGP上有一个devsel信號,此信号open会引起黑屏,CPU电压部分的MOS管不良或发烫,32.768异常,SB上的HL_COMP异常,网卡,I/O均会引起当機;Vcore,VTT异常也会造成Windows当机,但大部分 Windows当机难以量测到实际信号,总之有时要从细微的现象入手,找到问题的本质. Windows当机故障的量测点如下： (1).量测G_AD_STB0信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); (2).量测G_AD_STB0_信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); (3).量测G_AD_STB1信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); (4).量测G_AD_STB1_信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); (5).量测G_AD_STB0信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); (6).量测G_AD_STB0_信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); (7).量测G_AD_STB1信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); (8).量测G_AD_STB1_信号的电压值(0V)及 二集体值(与正常值对比); 8.功能故障的诊断方法如下： (1).K/B(键盤)FAILURE的诊断方法: ?????最简单的方法是量测K/B CONNECT上的阻值,用电阻档仔细测量两个电感的阻值,一般只有0.9Ω左右,如果偏差1-2Ω,就会有问题,有时电感也量测不到,由于变质或错料的原因,造成参数改变而影响K/B的功能,电感旁各一颗470PF或其它几百PF的电容变质会影響K/BCONNECT上的量测值,I/O,以及I/O上的14.318MHz或48MHz的CLK都会造成K/B失效,此外应量测IRQ1信号是否正常,还有南桥不良及K/B头接触不良也会造成K/B失效.(数码卡一般显示27) (2).MOUSE(鼠標)FAILURE的诊断方法: ??首先量测M/B MOUSE接口各PIN二极管值是否正常;然后应量测MS中断IRQ12信号是否正常,另外有些MS在DOS下功能测OK,但在Windows中却会移不动,或鼠标乱跳,此故障一般在BGA上面,请大家注意,KB和MS的不良也会造成不开机,数码卡在“C1”-”A7”来回跑,前面已讲过,这里不再重复. (3). COM(串行口)FAILURE的诊断方法: ?????首先量测M/B COM接口各PIN二极管值是否正常;然后量测75232(或184185,751