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区域耕地非农化与粮食产量关系空间特征研究
第 卷 第 期 液 晶 与 显 示 ,
24 3 Vol.24No.3
年 月 ,
2009 6 ChineseJournalofLiuidCrstalsandDislas Jun.2009
q y p y
文章编号: ( )
10072780200903036705
犣狀犗薄膜离子注入改性的研究进展
薛书文,梅 芳,肖世发,黄子康,莫 东
(湛江师范学院 物理系,广东 湛江 , : )
524048Emailxueshuwen 263.net
@
摘 要: 是一种在短波长光电器件领域有巨大应用价值的 族化合物半导体材料,
ZnO
Ⅱ Ⅵ
离子注入是常用的半导体掺杂技术,文章综述了国内外近年来离子注入技术在 的 、
ZnO np
型掺杂等方面的研究进展。
关 键 词:氧化锌;离子注入;掺杂
中图分类号:TN305.3 文献标识码:A
一般不是很高。根据不同的应用目的,人们可以
1 引 言
通过掺杂改变 ZnO中的载流子的浓度和类型。
ZnO是一种透明的 族化合物半导体,室 离子注入技术就是其中一种颇为有效的掺杂手
ⅡⅥ
温下的禁带宽度为 。 的激子束缚能 段。目前,对 的离子注入改性研究主要集中
3.37eV ZnO ZnO
( )比 ( )和 ( )等 在如下几个方面:()通过注入 等提高 的
60meV GaN 25meV ZnSe22meV 1 Al ZnO
高出很多,同时比室温热离化能( )也高许 导电性能,制备高电导率的透明薄膜;()通过注
26meV 2
多,具有纤锌矿结构。早期 的紫外发射随温 入 等提高 电阻率,制备绝缘材料;()通过
ZnO O
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