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　　终端选择开关: 仅配合可变插座使用, 通过开关的转换可使在不改变被测晶体管接线的条件下, 迅速观察其共发射极、 共基极等特性。当开关旋到“微电流”挡测试时, 集电极电源则自动变为直流,荧光屏上显示出来的图形为一圆点, 这时Y轴作用量程由红色标志的“nA／度”和“μA／度”确定, 其最小量程为1 nA／div, 最大为50 μA／div, 这时测试应在IR插孔上进行。  　　在接地改变的情况下, 应注意将阶梯极性作相应的改变。 　　固定插座: 供配置外插座或连接线之用, 它的“E”端是固定的接地端。“C”、“B”、“E”孔适用于大功率管的测试。 　　可变插座: 是配合“终端选择开关”使用的。 当“终端选择开关”置于“发射极接地”时, 表示“E”接地; 当置于“基极接地”时, 表示“B”接地; 当置于“微电流”时, 集电极扫描电源自动变为直流。测试应在IR插孔上进行。  　　高压测试插座: 高压测试插座配合接线夹使用, 它输出为一固定极性的正电压, “+”接线插孔为正端, “-”接线插孔为负端。 　　高压测试按钮: 高压测试按钮为一简易保护装置。 当需要进行高反压或高压两端器件测试时, 可使用5 kV输出电压。 使用前应先将调压器“峰值电压调节”调至零, 再将“扫描峰值电压范围”置于5 kV挡, X轴作用开关置于0.1～0.5 kV／div中适合挡位, 接上被测管, 此时并无高压输出。 按下高压测试按钮后, “高压接通指示灯”亮, 缓慢调节“峰值电压调节”旋钮, 高压接线插座即有高压输出。 　　2) 使用方法 　　(1) 接通电源, 电源指示灯亮, 预热15分钟后即可进行测试。  　　(2) 调节辉度为适当亮度, 调节聚焦及辅助聚焦, 使屏幕上时光点为一清晰光点, 标尺亮度以能清晰满足测量要求为原则。  　　(3) 将扫描电压调节旋至零, 然后将峰值电压范围、极性、 功耗电阻等开关分别置于测量所需位置。 　　(4) 对X、Y轴放大器进行直流平衡和-10 div校准。 将“校正”按键置零点, 即按入“⊥”键, 调节X、Y轴“移位”使光点至中点位置, 然后调节“X轴平衡”电位器, 使X开关按倍率改变时, 光点位置不变； 调节“Y轴平衡”电位器, 使终端开关从“B接地”到“微电流”时, 光点位置不变; 再调节X、 Y移位, 光点应可上下左右移出屏面。 然后将按入“⊥”时的光点移到坐标片右上角顶点, 再释放“⊥”键, 按入“-10度”键, 调节X、 Y轴校准电位器, 使光点偏转沿X、 Y方向均为-10度。 上述电位器的调节孔在右侧盖板上。  　　然后,根据测试的需要分别选择X、Y偏转作用开关的挡位。 移动光点,使之置于合适的显示位置。 　 　　(5) 调节阶梯调零旋钮, 使阶梯零点与Y轴放大器输入接地时重合。调节方法:首先将Y轴偏转放大器置于“基极源信号”一挡,X偏转放大器置于UC的任意挡级, “阶梯作用”置于“重复”, “阶梯幅度／级”置于“电压／级”的任一挡级, 扫描电压调节调到零, 使示波管荧光屏上显示一族阶梯电压。调节阶梯调零使阶梯第一个光点与Y轴偏转放大器校正按“零点”时的光点重合, 即完成了调零步骤。  　　(6) 选择需要的基极阶梯信号，将极性、串联电阻、阶梯幅度、阶梯作用, 级／秒等调至适合挡位。 　　(7) 当进行0～5 kV挡测试时, 应先将“扫描电压调节”调至零,扫描范围置5 kV挡, 在高压测试插座上接好被测管,然后按高压按钮，缓慢旋动“扫描电压调节”旋钮, 使电压上升到所需要的幅值。  　　在其它挡级的峰值电压范围内进行测试时, 被测管应在固定插座或可变插座上进行。 先将“测试选择”置“关”, “终端选择”置所需位置, 插上被测管, “测试选择”拨至测试一方, 缓慢旋转“扫描电压调节”旋钮,此时,荧光屏上即有曲线显示。 　　(8) 测试结束后, 应将峰值电压范围调到“10V”, 扫描电压调节旋至零, 功耗限制电阻调到最大值, 并关断电源。 　　3. 晶体管特性图示仪特性曲线测试举例 　　1) 二极管特性曲线的测试 　　测试二极管时只需观察流过二极管的电流与二极管两端电压之间的关系, 不必使用阶梯信号源。 　　(1) 二极管正向特性曲线的测试。测试前, 将X轴、Y轴坐标零点移至左下角。将二极管(以硅管为例)的正极接入测试台的“C”插孔, 负极接入“E”插孔。各开关旋钮位置如下:  　　· “扫描峰值电压范围”: 0～10 V； 　　· “扫描电压极性”: +； 　　· “功耗电阻”: 200～1 kΩ； 　　· X轴作用: 0.1～0.2 V/度； 　　· Y轴作用: 2～10 mA/度； 　　· 阶梯作用: 关。 　　缓慢增大扫描电压, 便可得到二极管正向特