数字逻辑实验指导书汇总.doc

实验一 实验箱及小规模集成电路的使用 一 实验目的 1 掌握实验箱的功能及使用方法 2 学会测试芯片的逻辑功能 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片：74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六非门 1片 三 实验内容 1 测试芯片74LS00和74LS86的逻辑功能并完成下列表格。 （1） 74LS00的14脚接＋5V电源，7脚接地；1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关，3、6、8、11接发光二极管。（可以将1、4、9、12接到一个逻辑开关上，2、5、10、13接到一个逻辑开关上。）改变输入的状态，观察发光二极管。74LS86的接法74LS00基本一样。 表1.1 74LS00的功能测试 输入 输入 输出 1、4、9、12 2、5、10、13 3 6 8 11 0 0 0 1 1 0 1 1 表1.2 74LS86的功能测试 输入 输入 输出 1、4、9、12 2、5、10、13 3 6 8 11 0 0 0 1 1 0 1 1 （2）分析74LS00和74LS86的四个门是否都是完好的。 2 用74LS00和74LS04组成异或门，要求画出逻辑图，列出异或关系的真值表。 （3）利用74LS00和74LS04设计一个异或门。画出设计电路图。 实验二 译码器和数据选择器 一 实验目的 1继续熟悉实验箱的功能及使用方法 2掌握译码器和数据选择器的逻辑功能 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片：74LS138 3线－8线译码器 1片 74LS151 八选一数据选择器 1片 74LS20 四输入与非门 1片 三 实验内容 1 译码器功能测试（74LS138） 芯片管脚图如图2.1所示，按照表2.1连接电路，并完成表格。其中16脚接＋5V，8脚接地，1～6脚都接逻辑开关，7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。 表2.1 输入 输出 使能端 选择端 A2 A1 A0 × 1 1 × × × 1 1 1 1 1 1 1 1 0 × × × × × 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 0 1 0 0 1 1 1 2 数据选择器的测试（74LS151） 按照表2.2连接电路，并完成表格。其中16脚接＋5V，8脚接地；9、10、11，为地址输入端，接逻辑开关；4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端，接逻辑开关；为选通输入端，Y为输出端，接发光二极管。 表2.2 选通端 地址输入端 数据输入端 输出 A2 A1 A0 D0 D1 D2 D3 D4 D5 D6 D7 Y 1 × × × × × × × × × × × 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 0 0 1 0 1 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 3 分别用74LS138（配合74LS20）和74LS151实现逻辑函数,要求画出逻辑图。 实验三 加法器和中规模集成电路的改造 一 实验目的 1掌握半加器和全加器的功能测试 2掌握中规模集成电路的功能改造。 二 实验仪器及芯片 1 实验箱 2 芯片：74LS00 二输入端四与非门 1片 74LS151 八选一的数据选择器 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片 三 实验内容 1 测试用异或门（74LS86）和与非门（74LS00）组成的半加器的逻辑功能 （1）按照图3.1进行连线，其中A、B接电平开关，Y、Z接发光二极管。 （2）按表的要求改变A、B状态，填表。 表3.1 输入端 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 输出端 Y Z 2 测试全加器的逻辑功能 （1）用异或门7