电阻及DCDC转换器低频噪声检测技术.pdf

摘要 近年来，随着对电子元器件低频噪声的深入研究，人们发现噪声是电子元器 件内部潜在缺陷的敏感反映。众所周知，大部分器件的失效都是由于器件制造或 运行期间产生的潜在缺陷产生的。因此可以用电子元器件低频噪声来分析器件可 靠性。目前这种方法正在被应用于各种半导体器件。包括MOSFET、量子阱、厚 膜和薄膜电阻、钽电容器、单晶材料等元件的可靠性分析方面。噪声已经成为电 子器件可靠性评价与筛选的一种简单而有效的新手段。作为一种可靠性表征手段， 电子元器件的低频噪声可靠性表征技术具有以下几个特点：普遍适用性、高度灵 敏性、非破坏性以及检测速度较快等优点。目前有关此方面的研究仍是一个非常 活跃的领域，尚待解决的问题仍然很多，比如超低阻器件低频噪声的检测与分析 技术、具备复杂电路模块器件低频噪声的检测与分析技术等等。 本文通过对电导噪声测量技术基础理论的详细研究与分析，给出了一些电导 噪声测试的基本理论与方法。在总结自己实际噪声测试实验基础上，给出了一些 噪声测试过程中的实验技术，并且完成DC／DC转换器低频噪声的测量与分析技术， 解决了噪声信号中包含周期干扰信号时的处理方法。本文研究工作的主要结果和 创新点包括： 1．系统性地分析了电子元器件低频噪声测试方法； 2．在实验基础上总结了噪声测试中的具体实验技术； 3．通过对DC／DC转换器工作特点分析，根据电导噪声的测量方法，确定了DC／DC 转换器低频噪声测试方案； 4、提出并分析了从DC／DC转换器低频噪声测试结果中去除其电路结构产生的交 流干扰信号的处理方法。 关键词：1，f噪声，g-r噪声，厚膜电阻，薄膜电阻，DaDc转换器，低频噪声 Abstract with ofLow can the noiseofelectron Along studding frequency devices，we findoutthattheLow noiseofelectrondevicesis reflect the frequency sensitivity ofelectrondevices．Asweallknowthattheinvalidationofmost latencydisfigurement electrondevicesCOmOSfromthe ofelectrondevices．Sowecan latency disfigurement usetheLOw noiseofelectrondevicesasa oftheelectron frequency reliabilityways methodWas usedtoindicatethe ofmostofthe devices．Now,this widely reliability electron filmandthickfilm devices．Such as：MOSFET,thin resistem，tantalum of the ofelectron capacitor,singleCrystal．Asone-wayindicating devices,