以低成本测试机实现含高速接口电路芯片测试技术-集成电路工程专业论文.docx

A b stra c tR e e e n tly v id e o d e v ie e s ，P e rso n a l c o 一n P u te rs a n d b ro a d b a n d a e e e s s te e h n o lo g y a re f ast d e v e lo P in g . A t th e sa 一n e tim e ， 3 D P ro e e s s in g . v id e o e x c h a n g in g a n d e o m P lie a te d eo :n P t!tatio n w o rk lead to q t:iek ex Pand ing o f the d ata . In o rder to satisfy thee o n sta n tly in e re a s in g re q u ire m e n t o f b ig v o lu m e d a ta e x e h a n g in g w o rk a m o n gP ro c e s S0 r ，m e m o ry ， P e riP h e ra l d e v ie e s a n d n e tw o rk d e v ic e s ， 一n o re a n d r no re h ig h s P e e d in te rf ae e s ，s u c h a s D D R ，U S B ，S A ’1’A a n d X A U I a re in tro d u c e d . N o w a d a y s s P e e d u n it f o r th e se h ig h sP e e d in te rf ae e s 15 G b P S a n d th e P o P u la r D D R 3 in te rf ae e h a s a s P e e d o f l .6 G b P s，S A I’A2 e a n re a e h 3 G b P s T h e n e W in te rf ac e s u c h a s S A I人 3 .O h a s a S P e e d o f 6 Gb P s .T h e tra d itio n a l m e th o d u se d to te st h ig h in te rf ae e n e e d s to im P le m e n t h ig hP e rf o rm a n e e te ste r w h ic h h a s th e sa m e o r h ig h e r SP e e d a s D U T in o rd e r to d o f u n e tio n te st a n d P a ra m e te r te st o f th e in te x’f ae e . A d a P tin g th is te st m e th o d o lo g y re q u ire s ad v a n e ed caP ab ility o f A uto m atie Te st Te ste r (户门，E )，th L一5 P t一sh u P th e te st eo st. T h ePo P ular AT E s w h ieh ean satisfy G bP s sPeed testing req u irem ent are Te rad y ne F lex ，U ltra F le x a n d V e rig y P in se a le 9 3 0 0 0 R F . B u t c o st o f th e se A T E15 P re tty h ig h ，w h ie h e a n re a c h 15 0 U S D /h . F o r a e o m P lie a te d S o C e h iP ，o n ly th e h ig h sP e e d in te rf ae e n e e d s v e ry h ig h te st s P e e d w h ile th e o th e r P a r tS c a n b e te s