GBT-4956-GBT4957-2003覆盖层厚度测量标准--ETIII.pptVIP

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 4. 10 外来附着尘埃 旨在保证仪器测头必须与试样表面紧密接触 6.8 表面清洁度 尽量去除外来物 避开难以除去的缺陷 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 4.11 覆盖层的电导率 当检测频率较高，200-2000Hz时，对于导电性能较好的金属镀层(如铜、银)，在镀层中会产生密度较大的涡流，并由此形成影响基体对测量线圈磁作用的感应磁场。 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 4.12 测头压力 主要考虑到覆盖层的刚性较差，以不同的压力施加于测量表面时，会引起覆盖层不同程度的变形，难以获得稳定、准确的测量。 软的覆盖层可用金属箔覆盖住再测量, 然后从测量值中减去金属箔的厚度。 许多测厚仪器在检测线圈壳体内装有弹簧，以保证操作的一致性。 6.10 技巧 主要考虑人为因素的影响，如压力、速率等。 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 4.13测头取向 考虑到地球重力场的影响，机械式测厚仪根据磁引力的效应来进行检测，因此受力方向的不同会对检测产生影响。 6.11 测头定位水平和垂直位置校准 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 5.仪器的校准 5.1 概述 ①制造商推荐校准方法 ②采用比较法 ③无法校准的仪器，确定测量偏差 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 5.仪器的校准制造商推荐校准方法 1、一点校准（零点校准） 2、二点校准（一片箔、二片箔） 3、透过覆盖层校准 基本校准修正（测头顶端磨损、新换探头、特殊用途） 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 5.2 校准标准片 箔、或者有覆盖层的片 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 5.2 校准标准片 箔、或者有覆盖层的片 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 5.3 校准 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 6.测量程序 6.1 概述 ①制造商推荐的测量程序 ②校准的时间要求 必须遵守的注意事项 6.5 读数次数 6.9 铅覆盖层 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 7 准确度要求 平均值 标准偏差 最后覆盖层厚度 内容讲解 二、GB/T 4956-2003 有关内容讲解 7 准确度要求 有一点对于减小系统误差，提高测量精度非常重要，且特别有效，而该标准未给予适当的重视并提出相应的规定，这就是关于仪器校准范围的问题，这也是一个在实际测厚工作中经常出现的问题，因此应特别予以注意。 要提高测量精度，应根据被测量覆盖层的厚度和整体均匀状况，选择合适厚度的膜片校准测厚仪。 内容讲解 三、GB/T 4957-2003 有关内容讲解 《非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法》 1 范围 本标准规定了使用涡流测厚仪无损测量非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度的方法。 本方法适用于测量大多数阳极氧化膜的厚度;但它不适用于一切的转化膜，有些转化膜因为太薄而不能用这种方法测量(见第7章)。 本方法理论上能测量磁性基体金属上覆盖层的厚度，但不予推荐。在这种情况下，应采用GB/T 4956中所规定的磁性方法进行测量。 2 规范性引用文件 内容讲解 三、GB/T 4957-2003 有关内容讲解 3 原理 涡流测厚仪器测头装置中产生的高频电磁场，将在置于测头下面的导体中产生涡流，涡流的振幅和相位是存在于导体和测头之间的非导电覆盖层厚度的函数。 内容讲解 三、GB/T 4957-2003 有关内容讲解 4 影响测量准确度的因素 4.2 基体金属的电性质 4.9 测头的放置 4.10 试样的变形 4.11 测头的温度 本章共有11个影响因素，因为涡流测厚方法的原理与磁性法相近，其中7 项因素均在GB/T 4956-2003 标准中有所涉及。 内容讲解 内容讲解 序号 影响因素 磁性法 涡流法 1 覆盖层厚度 4.1 4.1 2 基体金属的磁性 4.2 / 3 基体金属的厚度 4.3 4.3 4 边缘效应 4.4 4.4 5 曲率 4.5 4.5 6 表面粗糙度 4.6 4.6 7 基体金属机械加工方向 4.7 / 8 剩磁 4.8 / 9 磁场 4.9 / 10 外来附着尘埃 4.10 4.7 11 覆盖层的导电性 4.11 / 12 测头压力 4.12 4.8