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常规超声探伤特点---------一次只能单一角度的超声波发射和接收 扇形扫描成像 相控阵可实现多种扫描成像，如前所述B、C、D扫描成像，较为特殊的是还可形成S扫描成像，即在某一入射点形成一定角度的扇形扫查范围，又称扇形扫描成像。 谢谢大家 近场区概念 波源附近由于波的干涉而出现一系列声压极大值极小值的区域，称为超声波近场区。波源轴线上最后一个声压极大值至波源的距离称为近场区长度，用N表示。 N=D2/4λ 在近场区检测定量是不利的，处于声压极大值处的小缺陷回波可能较高，处于声压极小值处的小缺陷回波可能较低，这样容易引起误判，甚至漏检。因此尽可能避免在近场区检测定量。 1）试块调整法 对于工件厚度X3N或不能获得底波时，采用试块调整法 较为适宜，因为X3N时不符合计算法的适用条件，而且幅度随距离的变化不是单调的。 方法是，根据工件规格和对灵敏度的要求选择相应的试块，将探头对准试块上的人工反射体，调整仪器上相关灵敏度旋钮，使示波屏上人工反射体的最高反射回波达到基准高度。 T 试块调整法静态展示 2）工件底波调整法 利用试块调整灵敏度，操作简单方便，但需加工不同声程不同当量尺寸的试块，成本高，携带不便。 工件底波调整法调整灵敏度是根据工件底面回波与同深度的人工缺陷（如平底孔）回波分贝差为定值的原理进行的，其定值由相关理论公式，输入检测缺陷当量、声波类型波长和被检工件规格等计算出来。 其操作方法是将探头对准工件底波，调整旋钮使底波最高达基准高度，然后用衰减器增益计算得出的定值。 工件底波调整法只能用于厚度X≥3N的工件，同时要求工件具有平行底面或圆柱曲底面，且底面光洁干净。 缺陷的评定 当超声检测发现缺陷显示信号后，要对缺陷进行评定，以判断是否危害使用。缺陷评定的内容主要是缺陷位置的确定和缺陷尺寸的评定。缺陷位置的确定包括缺陷平面位置和埋藏深度的确定；缺陷尺寸的评定包括缺陷回波幅度的评定、当量尺寸的评定和缺陷延伸长度（或面积）的测量。 缺陷位置的确定 二缺陷尺寸的评定在实际检测中，由于自然缺陷的形状、性质多种多样，要通过超声回波信号确定缺陷的真实尺寸还是比较困难，目前主要是利用来自缺陷的反射波高、沿工件表面测出的缺陷延伸范围以及存在缺陷时底面回波的变化来评定。 缺陷尺寸评定方法主要有回波高度法、当量评定法和长度测量法， 1.回波高度法 根据回波高度给缺陷定量的方法称为回波高度法。 （1)缺陷回波高度法 在确定的检测条件下，缺陷尺寸越大，反射声压就越大，对于垂直线性好的仪器，声压与回波高度成正比，因此，缺陷的大小可以用缺陷的回波高度来表示。 回波高度法在自动化或半自动化检测时十分方便。在实际检测是，用规定的反射体调好检测灵敏度后，以缺陷回波高度是否高于基准回波高度，作为判定工件是否合格的依据，通过闸门高度的设定，可以进行自动报警与纪录。 （2）底面回波高度法 2.当量评定法 当量评定法是将缺陷回波幅度与规则形状的人工反射体的回波幅度进行比较的方法。如果两者埋藏深度相同，反射波高相等，则称该人工反射体的反射面尺寸为缺陷的当量尺寸。 但由于影响缺陷反射体回波幅度的因素很多，所以当量法确定的当量尺寸并不是缺陷的真实尺寸。因为人工反射体是一个规则形状缺陷，且界面反射率较大，通常情况下实际缺陷的实际尺寸要大于当量尺寸。 当量评定法有试块对比法、当量计算法和AVG曲线法 （1）试块对比法 试块对比法是将缺陷波幅直接与对比试块中同声程的人工反射体回波幅度相比较，两者相等时以该人工反射体尺寸作为缺陷当量。 试块对比法给缺定量时，要保持检测条件相同，即所用试块材质、表面粗糙度和形状等都要与被检工件相同或相似，试块中平底孔的埋藏深度与缺陷的埋藏深度相同，并且所用仪器、探头和对探头施加的压力也要相同。如果缺陷的埋藏深度与所用对比试块中平底孔的埋藏深度不同，则可用两个埋藏深度与之相近的平底孔，用插值法进行评定。 试块对比法的优点是明确直观，结果可靠，又不受近场区限制，对仪器对水平线性和垂直线性要求也不高，因此，对于要求给缺陷回波幅度准确定量的重要工件或要在X3N情况下给缺陷定量时常采用试块对比法。 缺点最主要是需要制作一系列含不同声程不同直径人工缺陷的试块。造价较高。 （2）当量计算法 是根据超声检测中测得的缺陷回波与基准波高（或底波）的分贝差值，利用各种规则反射体的理论回波声压公式进行计算，求出缺陷当量尺寸的定量方法。其应用前提是缺陷位于3N以外。 （3）AVG曲线法 3.缺陷延伸长度的测定 对于面积大于声束截面直径的缺陷，可根据检测到缺陷的移动范围来确定缺陷的大小，通常称为缺陷指示长度的测量。 缺陷指示长度测定的原理是：当声束整个宽度全部入射到大于声束截面的缺陷上时，缺