待测元素背景.ppt

§8.4 定量分析方法 一、标准曲线法 　配制一组合适的标准溶液，分别测定其吸光度A，作 A-c 曲线，测定试样溶液的A，从标准曲线上查得待测试样的含量. 该法简便、快速，但仅适用于组成简单、干扰较少的试样. 在实际分析中，有时出现标准曲线弯曲的现象，浓度高时曲线向浓度坐标弯曲。 原因：浓度高时，吸收线既有热变宽，又有压力变宽，使吸收线轮廓不对称，导致光源辐射共振线的中心波长与共振吸收线的中心波长错位，使吸收相应减少，结果标准向浓度坐标弯曲.  当Δλe/Δλa1/5时，吸光度和浓度呈线性关系； 当1/5Δλe/Δλa1时，曲线在高浓度区向浓度坐标弯曲； 当Δλe/Δλa1时，吸光度和浓度就不呈线性关系了； 光谱干扰、化学干扰、物理干扰也可导致曲线弯曲. 使用本法应注意：P247，5点. 二、直接比较法：样品数量不多，浓度范围小可用该法。  三、标准加入法 当试样基体影响较大，且又没有纯净的基体空白，或测定纯物质中极微量的元素时采用。 1.在容量瓶A及B中分别加入等体积的试样； 2.在B瓶中再加入一定量的标准溶液； 3.将二瓶溶液稀释至某一体积； 4.测出二份溶液的吸光度，设纯试样液的浓度为cx ，吸光度为AX；加了标准液的浓度增加为c0，吸光度为A0 ，则可得： AX = k cx A0 = k（c0+ cx ） 整理以上两式得：  cx= AX/（A0－AX）·c0 8-19 实际测定时，通常采用作图外推法：在4份或5份相同体积试样中，分别按比例加入不同量待测元素的标准溶液，并稀释至相同体积，再分别测定吸光度A。以加入待测元素的标准量为横坐标，相应的吸光度为纵坐标作图可得一直线，此直线的延长线在 横坐标轴上交点到 原点的距离相应的 质量即为原始试样 中待测元素的。 参图8-18. 用该法时应注意： 1.待测元素浓度与对应的吸光度应呈线性关系. 2.最少应采用4个点来作外推曲线； 3.本法能消除基体效应带来的影响，但不能消除背景吸收的影响； 4.对于斜率太小的曲线(灵敏度差)，误差较大. §8.5 干扰及其抑制 一、概述：总的说干扰是较小的.这是由方法本身的特点所决定的.因为用的是锐线光源，应用的是共振吸收线，吸收线的数目比发射线数目少得多，谱线相互重叠的几率较小，这是光谱干扰小的重要原因.蒸汽中基态原子数近似地等于总原子数，这是干扰小的一个基本原因. 实际工作中仍不可忽视干扰问题，甚至还很严重. 二、光谱干扰：主要来自光源和原子化器. 1.与光源有关的光谱干扰 ①与分析线相邻的是待测元素谱线 吸收线重叠 分析线附近有单色器不能分离掉的待测元素的其它特征谱线,将产生干扰,灵敏度下降,工作曲线弯曲。例如Ni共振线232.0nm附近有231.6 nm的特征谱线 —减小狭缝宽度； ②与分析线相邻的是非待测元素的谱线—高纯元素灯； ③空心阴极灯中有连续背景发射，若试样中共存元素吸收线处于该发射区，产生假吸收—纯化灯内气体或换灯。 2.光谱线重叠干扰：分析线可能与干扰元素的某谱线重叠—另选分析线。 3.与原子化器的干扰：待测元素在高温原子化过程中因电离作用而引起基态原子数减少的干扰（主要存在于火焰原子化器中）： ①原子化器的发射：来自火焰本身或原子蒸汽中待测元素的发射—采用调制方式可避免； ②背景吸收（分子吸收）：来自原子化器的一种光谱干扰.它是由气态分子对光的吸收以及高浓度盐的固体微粒对光的散射所引起的。是一种宽频带吸收。 背景吸收主要由于在火焰中形成了分子或较大的质点，因此除了待测元素吸收共振线外，火焰中的这些物质—分子和盐类，也吸收或散射光线，引起了部分共振发射线的损失而产生误差。这种影响一般是随波长的减短而增大，同时随基体元素浓度的增加而增大，并与火焰条件有关。无火焰原子化器具有严重得多的分子吸收，测量时必须予以校正。 例：在空气-乙炔焰中，Ca形成CaOH在530~560 nm有一个吸收带，干扰 Ba 553.6nm的测定 碱金属、碱土金属的盐类分子的吸收：NaCl, KCl, CaCl2在３００nm以下的紫外区有很强的分子吸收带，干扰Zn, Cd, Ni等元素的测定。 无机酸的分子吸收：H2SO4、H3PO4在250nm以下有强的分子吸收，测在紫外吸收的元素时，一般用HNO3，HCl，王水处理样品，而不用H2SO4、H3PO4。 火焰气体的吸收：火焰成分有N2、OH、CO2、CN、C、H，它们都会出现分子吸收，但火焰点燃后，通过“调零”方法即能克服这些影响。 校正：①邻近线校正法； 邻近非共振线法—背景吸收是宽带吸收，在分析线邻