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扩展OSL 方法校准微波双口测试夹具
第 11 期 电 子 学 报 Vol . 30 No . 11
2002 年 11 月 ACTA ELECTRONICA SINICA Nov . 2002
扩展 OSL 方法校准微波双口测试夹具
陈振宇 ,王幼林 ,祝宁华
( 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室 ,北京 100083)
( )
摘 要 : 常规的OSL openshortload 校准方法具有简便易行的特点 ,被广泛应用于单端 口测量的测试夹具的校
准. 在本文中 ,OSL 方法被首次扩展应用于双端口夹具的校准 ,并消除该方法带来的相位不确定问题. 通过实验证明这
( )
种方法与 SOLT shortopenloadthru 方法同样精确.
关键词 : 校准 ; 微波网络分析仪 ; 散射参数测量 ; 相位不确定性
中图分类号 : TN707 文献标识码 : A 文章编号 : (2002)
The Extende d O SL Metho d for Calibrating the TowPort Microwave Te st Fixture s
CHEN Zhenyu ,WAN G Youlin ,ZHU Ninghua
( State Key L aboratory on Integrated Optoelectronics , Institute of Semiconductors , CAS , Beij ing 100083 , China)
( )
Ab stract : The openshortload OSL method is very simple and widely used for oneport test fixture calibration . In this paper ,
this method is extended to the calibration of twoport test fixtures for the first time . The problem of phase uncertainty arising in this ap
( )
plication has been solved. The comparison between our results and those obtained with the shortopenloadthru SOLT method shows
that the method established is accurate enough for practical applications.
Key wor
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